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基于多特征序列编码的SoC测试数据压缩方法研究
作 者: 余健
导 师: 欧阳一鸣
学 校: 合肥工业大学
专 业: 计算机软件与理论
关键词: SoC 测试数据压缩 测试源划分 FDR码 Huffman编码
分类号: TN407
类 型: 硕士论文
年 份: 2008年
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内容摘要
随着基于IP核复用的系统芯片(System-on-a-Chip,SoC)设计技术的出现,极大的增加了芯片设计产量且缩短了产品投放市场的时间,然而随着集成的IP核数目的增加,使得芯片测试所需的测试数据量也飞速增加;同时,由于自动测试设备(Auto Test Equipment,ATE)的昂贵,使得SoC的测试成本飞速上升,SoC的测试问题已经受到越来越广泛的关注。为了解决SoC测试数据量过大的问题,一种最直接有效的方法就是对测试数据进行压缩。本论文在分析了几种测试数据编码压缩的基础上,提出了两种新的编码压缩方案,其中主要内容有:(1)介绍了测试技术基础以及SoC测试中遇到的问题,总结了目前测试数据压缩技术的国内外研究成果,主要可分为内建自测试和外建自测试两类压缩方法。并针对两类方法都举出一些主要的方案进行阐述,剖析其内在原理及特点。(2)第一种方案——对多特征序列编码的方案。FDR码只对0游程编码,对连续的1和交替序列的编码效率很低,因此提出了针对测试数据中四种特征序列进行编码的策略。主要思想是将测试集看成由四种特征序列组成的数据流,对不同的序列采用同等的编码规则,提高编码效率。并在FDR码的基础上,提出了两种针对多特征序列的编码规则,并给出其解码硬件结构。(3)第二种方案——针对变长输入Huffman码方案中只对0游程长度进行统计编码的缺陷,提出一种新的基于游程长度的统计模式集合,根据新的集合对测试集中各种游程长度的出现频率进行统计,再进行Huffman编码,提升编码效率。在ISCAS 89标准电路上的实验结果表明,本文提出的两种方案均能有效地对测试数据集进行压缩。两种方案均是对原始测试集进行直接编码,编码前不需要对测试集进行差分操作,因此解码电路中减少了CSR的硬件开销。
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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 微电子学、集成电路(IC) > 一般性问题 > 测试和检验
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