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针对SOC测试数据压缩的编码方法研究

作　者: 汪峻
导　师: 欧阳一鸣
学　校: 合肥工业大学
专　业: 计算机软件理论
关键词: 测试码压缩交替与连续长度码折叠计数器折叠跳转
分类号: TN47
类　型: 硕士论文
年　份: 2006年
下　载: 57次
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内容摘要

随着集成电路的设计趋势正在快速的朝向片上系统SoC(System-on-a-Chip)设计方法的转变,逐步的将各种预先设计和验证的芯核集成在一个芯片上,这样增加了设计产量且缩短了产品投放市场的时间,但是同时给测试也带来了挑战。测试数据的不断增加、测试时间的增长使得测试的成本越来越大,为了缓解这些问题,必须对测试数据进行压缩。本文从几种经典的测试数据压缩方法入手,对各种方法的优缺点进行了分析,总结出了每种方法各自的适用范围,并在此基础上提出了部分改进。本文主要工作如下: 1.总结了当前各种编码压缩技术,对每种方法的特点做出了总结和分析,着重分析了交替与连续长度码和折叠计数器这两种方法,总结其适用范围,找出其不足之处,并在后边的工作中对其作改进 2.对测试集差分向量中的连续的0进行编码是一种很经典的方法。但是不能很好的适应差分向量中连续的1和10交替的情况,交替与连续长度码可以很好的解决这个问题。本文对测试集进行预处理,使得预处理后的测试集能更好的用交替与连续长度码进行编码,实验结果表明,本方法可以有效的实现对测试数据的压缩。 3.针对传统的折叠计数器技术需要重新播种的问题,本文给出了一种方法,它不需要进行重新播种,当一个折叠集生成完毕之后,可以通过在若干个中间折叠集的跳转跳转到下一个折叠集。文中将用数学方法证明这样的中间折叠集是存在的,并且经过的折叠集的个数最少。本方法硬件丌销较小,通讯协议简单,但是其压缩效果非常明显。本方法可以利用折叠计数器的技术处理孤立点较多的问题,扩展了传统折叠计数器的通用性。

全文目录

第一章绪论  11-24
  1．1 SOC测试技术  11-16
    1．1．1 SOC测试技术产生的背景  11-14
    1．1．2 1．1．2 SOC测试的的相关概念  14-16
  1．2 数据压缩在SOC测试中的应用  16-17
    1．2．1 课题背景  16-17
    1．2．2 课题目的和意义  17
  1．3 国内外研究现状  17-24
    1．3．1 国内外关于测试技术的研究  17-22
    1．3．2 国内外关于数据压缩的研究  22-24
第二章 SOC测试技术概述  24-36
  2．1 BIST技术简介  24-28
  2．2 BOST技术简介  28-36
第三章基于数据预处理的交替与连续长度码的数据压缩方法  36-43
  3．1 测试码的数据预处理过程  36-38
  3．2 测试码压缩过程  38-39
  3．3 数据解压过程  39-41
  3．4 实验结果  41-43
第四章任意向量之间进行折叠跳转的数据压缩方法  43-56
  4．1 跳转的有关理论背景  43-47
  4．2 折叠集之间跳转的过程  47-50
  4．3 解压过程  50-53
  4．4 实验结果  53-56
第五章总结与展望  56-58
  5．1 课题研究总结  56-57
  5．2 今后工作中研究方向  57-58
参考文献  58-62
在校期间发表的文论  62
作林期间参与的科研项目  62

针对SOC测试数据压缩的编码方法研究

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