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无关位在被测电路自己施加测试矢量方法中的研究与应用

作　者: 周皓
导　师: 邝继顺
学　校: 湖南大学
专　业: 信息与通信工程
关键词: 可测试性设计 内建自测试 自反馈 无关位
分类号: TN407
类　型: 硕士论文
年　份: 2009年
下　载: 27次
引　用: 1次
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内容摘要


近年来,集成电路技术日新月异。人们要求电路既要有强大的功能,又要有较高的可靠性。由于电路密度快速增加,而外部管脚数目因受几何尺寸限制增加缓慢,在芯片外部很难对其进行控制和观测。于是,人们引入了可测试性设计方法来解决这个问题。内建自测试是一个被广泛使用的可测试性设计方法。最近,一种由被测电路自己施加测试矢量的内建自测试方法被提出。该方法使用Mintest确定性测试集,对被测电路施加第一个测试矢量以后,将被测电路中一些内部节点的响应值用捕获寄存器捕获,把这些响应值反馈到被测电路的输入端作为下一个测试矢量。本文对Mintest测试集中的无关位进行了研究,提出了一种无关位赋值方法用来提高被测电路自己施加测试矢量方法的故障效率。参照电路内部节点的响应,对下一个要输入的测试矢量中的无关位进行合理赋值,可以延缓备选反馈节点数目的减少速度。这样每一组反馈生成的属于Mintest测试集的矢量个数就会更多。在此基础上,本文提出了一种基于被测电路自己施加测试矢量方法一般反馈方式动态变换无关位的方法。大部分电路的一般反馈方式需要进行多组反馈才能达到期望的故障效率。每组反馈都能生成Mintest测试集中的部分矢量和一些额外的测试矢量,由于这些额外测试矢量可以检测到一些新故障,剩余的确定性测试矢量需要检测的故障数就少了。故障集减小,就可以在Mintest测试集剩余测试矢量中变换出更多的无关位。利用前一组反馈测试在剩余测试矢量中变换出更多的无关位,可以提高一般反馈测试最终的故障效率。使用含有无关位的Mintest测试集在benchmark 85基准电路上的模拟实验结果表明:利用无关位的方法与原方法相比,分组完全反馈方式需要的反馈组数有所降低;一般反馈方式在不增加开销的前提下,提高了平均故障效率。

全文目录


摘要  5-6
Abstract  6-11
第1章 绪论  11-17
  1.1 研究背景  11-12
  1.2 集成电路测试概述  12-15
    1.2.1 集成电路测试及分类  12-13
    1.2.2 系统芯片测试  13-14
    1.2.3 自动测试设备  14
    1.2.4 可测试性设计  14-15
  1.3 研究内容  15-16
    1.3.1 无关位在被测电路自己施加测试矢量方法中的应用  15
    1.3.2 一般反馈方式中动态变换无关位的方法  15-16
  1.4 论文的组织结构  16-17
第2章 数字集成电路测试基本理论和方法  17-32
  2.1 数字集成电路测试基础  17-21
    2.1.1 故障模型  17-18
    2.1.2 测试生成  18-19
    2.1.3 故障模拟  19-20
    2.1.4 响应分析  20-21
  2.2 可测试性设计方法  21-23
    2.2.1 扫描设计  21-22
    2.2.2 边界扫描法  22-23
  2.3 内建自测试  23-29
    2.3.1 基本介绍  23-25
    2.3.2 内建自测试的结构  25-26
    2.3.3 内建自测试的测试生成方法  26-27
    2.3.4 循环自测试路径系统  27-29
  2.4 测试数据中的X 位  29-31
    2.4.1 测试矢量和响应矢量中的X 位  29-30
    2.4.2 无关位在测试中的应用  30-31
  2.5 小结  31-32
第3章 无关位在一种自反馈测试方法中的应用  32-42
  3.1 Mintest测试集及其无关位  32-33
  3.2 由被测电路自己施加测试矢量的BIST 方法  33-35
  3.3 无关位的赋值  35-39
    3.3.1 基本思想  36
    3.3.2 无关位的赋值  36-39
  3.4 算法描述  39-40
  3.5 反馈节点的选择  40
  3.6 后续处理过程  40-41
  3.7 小结  41-42
第4章 在一般反馈方式中动态变换无关位  42-47
  4.1 基本思想  42-43
  4.2 算法描述  43-44
  4.3 矢量精简  44-45
  4.4 动态算法和静态算法的比较  45-46
  4.5 小结  46-47
第5章 无关位应用的实现过程和结果分析  47-53
  5.1 实验的基本介绍  47-48
  5.2 分组完全反馈  48-49
  5.3 一般反馈方式  49-52
    5.3.1 一般反馈  49-50
    5.3.2 改变反馈方式的方法  50-51
    5.3.3 三次反馈  51-52
  5.4 小结  52-53
结论  53-55
参考文献  55-59
致谢  59-60
附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录  60-61
附录B 攻读学位期间所参与的科研活动  61

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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 微电子学、集成电路（IC） > 一般性问题 > 测试和检验
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