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笑气分子价壳层激发态的广义振子强度研究
作 者: 王友燕
导 师: 朱林繁
学 校: 中国科学技术大学
专 业: 原子与分子物理
关键词: 广义振子强度 价壳层 跃迁 积分截面 入射电子 分子点群 微分散射截面 激发态结构 玻恩近似 原子分子 光学振子强度 电子能量损失谱 金属原子束 动量转移 非弹性散射 末态波函数 灵敏探测器 电子碰撞 基态 微分截面
分类号: O562
类 型: 硕士论文
年 份: 2011年
下 载: 9次
引 用: 0次
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内容摘要
本论文包括四部分内容:首先介绍了快电子能量损失谱的基本物理概念;随后测量了N2O分子价壳层激发态的截面;接着系统性地分析与评估了He原子的n1S和n1P激发态非弹性散射的积分截面;最后介绍了金属原子束流源的改进。在第一章中,首先介绍了快电子能量损失谱方法,重点介绍了广义振子强度(GOS)、微分散射截面(DCS)、积分截面(ICS)的物理概念以及测量它们的实验方法。另外,还介绍了广义振子强度、积分截面的实验数据处理及BEf-scaling方法。在第二章中,利用快电子能量损失谱仪,在入射电子能量2500eV和能量分辨100meV的条件下,测量了N2O分子价壳层激发态的微分散射截面、广义振子强度和积分截面。通过对比实验和理论的结果,发现在200eV的入射电子能量下,D1Σ+态已经达到了一阶Born近似,而C1Π态却没有满足一阶Born近似。除此之外,基于分子点群知识,对B~1△态做的广义振子强度做了详细分析和讨论,发现在B ~1△←X~1Σ~+跃迁中既存在电四极跃迁又存在电偶极跃迁,其中电四极跃迁占主导地位。在第三章中,重新设计改造了金属原子束流源。本论文设计的束流源更加紧凑,在真空室中安装更加便捷,同时大大地提高了束流源的密封性能,减少了外溢金属蒸汽对真空腔室和大气的污染。
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全文目录
中文摘要 3-4 英文摘要 4-6 1 快电子能量损失谱学的物理概念和试验方法 6-18 1.1 快电子能量损失谱概述 6-8 1.2 快电子碰撞方法的物理基础 8-15 1.2.1 广义振子强度、微分散射截面和积分截面 8-10 1.2.2 实验测量方法 10-15 1.3 小结 15-16 参考文献 16-18 2 N_2O 价壳的快电子碰撞激发截面研究 18-27 2.1 研究现状 18-19 2.2 实验测量条件和方法 19-20 2.3 结果与讨论 20-24 2.4 小结 24-26 参考文献 26-27 3 金属原子束流源的改进 27-32 3.1 研究的必要性 27 3.2 加热炉的设计 27-30 3.3 小结 30-31 参考文献 31-32 总结与展望 32-33 硕士学位期间发表的论文 33-34 致谢 34
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中图分类: > 数理科学和化学 > 物理学 > 分子物理学、原子物理学 > 原子物理学
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