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BCH编译码器的设计及验证

作　者: 江建国
导　师: 周玉洁
学　校: 上海交通大学
专　业: 电路与系统
关键词: NAND闪存 随机错误 BCH码 OVM验证
分类号: TN762
类　型: 硕士论文
年　份: 2011年
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内容摘要


在数字技术飞速发展的时代,NAND闪存因其非易失性、可擦除性以及更低廉的每比特价格得到了迅速发展,在数码相机、掌上电脑等手持设备中得到广泛的应用。虽然NAND闪存已经从传统的SLC发展到MLC NAND,但是MLC NAND闪存设备需要更高级别的错误校验与纠错算法(ECC)。因此高级ECC算法的实现对于嵌入式处理器在设计方面构成了很大的挑战。为了纠正存储器件芯片中的随机错误,本文采用可纠正24比特错误的BCH码。该码能够纠正多个随机错误,具有编码简单、译码容易实现等优点,非常适应NAND类型存储器的随机错误特点。因此研究二元BCH码的编译码算法有着重要的意义。本文首先介绍了NAND闪存的发展现状及ECC校验的发展过程,并详细介绍了BCH码的背景知识和理论基础,然后对24比特BCH码的编译码算法过程、纠错性能和硬件设计实现进行了详细阐述,并重点对其中具有代表性的BM算法进行了理论研究,接着给出软硬件环境的搭建方法和实验结果的分析,并介绍了目前流行的OVM验证方法学。实践证明该IP核能够有效的纠正24比特以内的数据。最后对全文进行了总结,并对下一步研究工作予以展望。

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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 基本电子电路 > 调制技术与调制器、解调技术与解调器 > 编码器
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