学位论文 > 优秀研究生学位论文题录展示
基于放电特征检测的复合绝缘子憎水性评估方法研究
作 者: 杨本星
导 师: 杜伯学
学 校: 天津大学
专 业: 高电压与绝缘技术
关键词: 复合绝缘子 憎水性 交流电晕 直流电晕 盒维数 发光亮度 发光面积
分类号: TM216
类 型: 硕士论文
年 份: 2010年
下 载: 106次
引 用: 1次
阅 读: 论文下载
内容摘要
复合绝缘子具有污闪、湿闪电压高,重量轻等优点,在我国电网中得广泛的应用。复合绝缘子优异的性能是由于其外绝缘材料硅橡胶具有良好的憎水性,但是在运行过程中污秽、潮湿、放电等因素经常引发憎水性下降甚至丧失,导致复合绝缘子闪络电压显著下降而引发闪络事故,严重威胁电力系统的安全和稳定。常用的憎水性检测方法有:接触角法、表面张力法、喷水分级法和泄漏电流法等。但这些方法都有自身的局限性,因此,迫切需要一种能够更加有效检测复合绝缘子表面憎水性的方法,以提高其安全性和可靠性,确保电力系统的稳定运行。本文在以上方法的基础上,提出一种基于放电光学特征分析的评估方法。本文在电晕老化试验的基础上,分别在交流电晕,正负直流电晕下对六块试样进行不同时间的老化,以制备出不同老化程度的试样。实验过程中用高速摄像机记录液滴在试样表面的动态变化过程及其引发的表面放电现象,通过分析放电分布及特征建立了绝缘子表面放电的放电亮度、放电面积、分形维数与试样憎水性的对应关系。结果表明:随着憎水性的下降,放电亮度、放电脉冲个数、放电面积及盒维数均呈增大的趋势。本文研究了在交流电晕老化条件下,随着电晕老化时间的增加,憎水性的变化规律。结果表明:随着憎水性的下降,试样表面的放电亮度和放电面积有增强趋势,放电的盒维数也逐渐增大。直流电晕老化条件下,试样表面放电现象也有与此相似的变化规律。且其变化趋势更明显,这是因为直流电晕老化更为严重的缘故。最后,本文在喷水分级法的基础上,对不同HC等级试样表面的放电现象作了定量表征。结果表明,随着HC等级的增加,放电亮度、放电面积及盒维数均有增加趋势。放电光的特征与试样憎水性有良好的对应关系,因此,可以把它作为复合绝缘子憎水性评估的一种新方法。
|
全文目录
摘要 3-4 ABSTRACT 4-7 第一章 绪论 7-17 1.1 选题背景及研究意义 7-10 1.2 复合绝缘子憎水性及丧失机理 10-14 1.3 复合绝缘子憎水性评估方法 14-16 1.4 本论文的主要工作 16-17 第二章 实验过程及数据处理方法 17-26 2.1 实验试样介绍 17 2.2 电晕老化实验 17-20 2.2.1 实验装置及实验方法 17-18 2.2.2 实验过程 18-19 2.2.3 实验结果及分析 19-20 2.3 动态水滴实验 20-22 2.3.1 实验装置及实验方法 20-21 2.3.2 实验过程及相关参数 21-22 2.4 放电光特征的提取 22-25 2.4.1 分形维数简介 22-24 2.4.2 盒维数及亮度计算方法 24-25 2.5 本章小节 25-26 第三章 交流电晕对绝缘子表面憎水性的影响 26-34 3.1 亮度变化规律 26-29 3.2 盒维数变化规律 29-32 3.3 发光面积变化规律 32-33 3.4 本章小结 33-34 第四章 直流电晕对绝缘子表面憎水性的影响 34-44 4.1 直流输电中的电晕现象 34-35 4.2 直流电晕下试样的憎水性变化 35-40 4.2.1 负直流电晕下试样的憎水性 35-38 4.2.2 正直流电晕下试样的憎水性 38-40 4.3 发光面积变化规律 40-41 4.4 交直流电晕对比 41-43 4.5 本章小结 43-44 第五章 不同HC等级试样的放电光特性 44-51 5.1 喷水分级法简介及试样制备 44-45 5.2 不同HC等级试样表面放电的光学特征 45-50 5.3 本章小节 50-51 第六章 结论与展望 51-52 6.1 本文结论 51 6.2 研究展望 51-52 参考文献 52-55 发表论文和参加科研情况说明 55-56 致谢 56
|
相似论文
- 复合绝缘子端部电场改善的研究,TM216
- 基于小波分形理论的振动信号分析系统研究,TN911.6
- 基于光纤布拉格光栅复合绝缘子的输电线路覆冰监测研究,TM755
- 综合分形盒维数和三阶循环累积量的频谱感知算法研究,TN925
- Takagi函数的性质,O174
- 基于直流电晕放电氧化/还原氛围下的自由基电化学行为研究,X703
- 复合绝缘子人工污秽试验研究,TM216
- 测度维数的局部化与函数图象盒维数的若干研究,O174.12
- 新型防水干混砂浆的研制及性能研究,TU578.1
- 基于电沉积法制备镍纳米网状结构薄膜材料的研究,TB383.2
- 中原油田复合绝缘子老化状况评估方法的研究,TM216
- 利用两种方法构造测度所诱导的维数,O174.12
- 一类多参数递归分形插值曲面迭代函数系及其盒维数,O186.1
- 自仿集及边界的Hausdorff维数,O186
- 关于自相似集维数的若干结论,O174.12
- 分形插值和分形维数的探讨,TP391.41
- 一类m-均匀Cantor集的填充测度及熵数与填充维数关系,O174.12
- 基于动态液滴放电实验的合成绝缘子憎水性检测研究,TM216
- 与间隙序列相关的高维sierpinski地毯的盒维数,O174.12
- 基于混沌的自适应数字水印算法,TP309.7
中图分类: > 工业技术 > 电工技术 > 电工材料 > 绝缘材料、电介质及其制品 > 绝缘子和套管
© 2012 www.xueweilunwen.com
|