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基于折叠计数器的集成电路低功耗BIST研究
作 者: 胡志国
导 师: 梁华国
学 校: 合肥工业大学
专 业: 计算机应用技术
关键词: 内建自测试 编码 低功耗测试 折叠种子
分类号: TN406
类 型: 硕士论文
年 份: 2006年
下 载: 88次
引 用: 1次
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内容摘要
BIST为复杂电路的测试提供了一种很有前途的解决方案,但由于本身存在的特点,致使电路在测试过程中出现新的问题——测试功耗过高。特别是针对有功耗约束的电路,这种问题就更加突出。过高的测试功耗不但影响电路性能的可靠性,甚至会使电路的成品率下降。因此,低功耗BIST测试已成为研究中的热点问题,本论文主要研究混合BIST低功耗测试方法,以及将功耗和编码二者结合的完全确定性低功耗测试方法。其中主要内容如下: 1 低功耗BIST方法的概述:列举了当前各种低功耗BIST测试方案,分析了各自的特点,并对他们进行了分类说明。 2 提出了一种混合BIST低功耗测试方案:根据混合BIST测试方案的特点,利用门控时钟测试方法实现了混合BIST中伪随机低功耗测试;在确定性测试中利用加载到CUT上折叠序列的特点,调整加载折叠序列的顺序,改善相邻序列之间的相关性,显著减少了测试过程中电路上的跳变数值,从而大大降低了测试功耗。 3 完全确定性BIST低功耗测试方案研究:针对电路完全确定性测试集的特征,结合LFSR和折叠压缩双重编码方案,完成对完全确定性测试集的编码,并将编码之后获得的折叠种子存储在被测电路ROM中或者是自动测试设备存储单元中。实验数据表明,本方案的编码效果比连续长度编码方案更好,且解压逻辑结构更加简单。当对折叠种子进行解压时,调整生成测试向量之间的顺序,确保相邻向量之间的高相关性,从而避免了电路在测试过程中产生过多的开关活动,因此保证了测试是在低功耗下完成的。
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全文目录
第一章 绪论 12-17 1.1 本课题研究背景 12-14 1.2 低功耗测试技术研究的意义及国内外研究现状简介 14-15 1.2.1 低功耗测试技术研究的意义 14-15 1.2.2 国内外研究现状简介 15 1.3 本课题研究工作及来课题来源 15-16 1.4 本文章节安排 16-17 第二章 集成电路测试概述及测试中的低功耗研究 17-32 2.1 集成电路测试概述 18-27 2.1.1 使用 ATE测试 18-19 2.1.2 内建自测试 BIST 19-22 2.1.3 测试向量生成策略 22-25 2.1.4 响应分析策略 25-26 2.1.5 BIST中面临的功耗问题 26-27 2.2 低功耗 BIST的研究 27-30 2.2.1 功耗的基本概念 27-28 2.2.2 测试功耗相关概念及测试功耗模型 28-29 2.2.3 延迟模型 29-30 2.2.4 测试功耗的评估因子 WSA 30 2.3 低功耗 BIST当前研究现状 30-31 2.3.1 测试期间高功耗的原因 30-31 2.3.2 低功耗测试方面的一些研究工作 31 2.4 小结 31-32 第三章 基于折叠计数器的混合 BIST低功耗测试方案研究 32-48 3.1 折叠计数器的相关介绍 32-34 3.1.1 与折叠计数器相关概念的介绍 32-33 3.1.2 折叠序列的特点 33-34 3.2 伪随机 BIST测试的低功耗优化方案介绍 34-38 3.3 基于折叠计数器的混合 BIST低功耗测试策略 38-47 3.3.1 混合测试中伪随机 BIST测试低功耗的实现 38-40 3.3.2 确定性 BIST低功耗测试的实现 40-44 3.3.3 混合 BIST低功耗测试实现结构 44-46 3.3.4 混合 BIST低功耗测试实验结果 46 3.3.5 结论 46-47 3.4 小结 47-48 第四章 基于双重编码的完全确定性 BIST低功耗测试方案研究 48-57 4.1 引入完全确定性 BIST低功耗测试原因分析 48 4.2 完全测试集的生成及相应的第一次压缩 48-50 4.2.1 完全确定性测试集的生成 48-49 4.2.2 完全确定性测试集的第一次压缩 49-50 4.3 完全确定性测试集的进一步压缩 50-52 4.3.1 进一步压缩原因分析 50 4.3.2 LFSR对折叠计数器种子编码 50-52 4.4 基于折叠序列完全确定性 BIST低功耗测试策略 52-55 4.4.1 整体方案的实现 52 4.4.2 整体方案实现的目标结构 52-54 4.4.3 实验结果与分析 54-55 4.5 小结 55-57 第五章 总结与展望 57-59 5.1 主要工作 57-58 5.2 今后工作展望 58-59 参考文献 59-66 附录 66 附录A:读研期间撰写的论文 66 附录B:读研期间参加的课题 66 附录C:本课题中的硬件与软件环境 66
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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 微电子学、集成电路(IC) > 一般性问题 > 可靠性及例行试验
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