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高温超导薄膜微波表面电阻的测量

作　者: 刘泥
导　师: 张其劭
学　校: 电子科技大学
专　业: 物理电子学
关键词: 高温超导薄膜微波表面电阻介质谐振器品质因素
分类号: TM934.1
类　型: 硕士论文
年　份: 2002年
下　载: 98次
引　用: 1次
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内容摘要

本论文是国家863项目下达的课题。随着高温超导薄膜日益广泛的应用以及薄膜制备技术的不断提高，而高温超导薄膜的最主要的微波特性参数就是微波表面电阻，这就迫切需要对高温超导薄膜的微波表面电阻的测试技术进行研究。本文介绍了一种利用TE_011+δ模式的蓝宝石介质谐振器测量高温超导薄膜微波表面电阻的方法，通过测量加载超导薄膜后的介质谐振器的固有品质因素的变化来确定超导薄膜的微波表面电阻Rs。这种方法能够更准确地测量高温超导薄膜的微波表面电阻，而且能对单片膜进行非损伤的测量。本文在深入地考虑了校准技术准确性问题的基础上，改进制作了一个工作在12GHz附近的蓝宝石介质谐振器Rs测试座，并构建了自动测试系统。利用它对高温超导薄膜的微波表面电阻Rs进行测试，它具有灵敏度高，重复性好的特点，可以成功地用于φ30到φ50的高温超导薄膜的Rs测量。本文对测量结果进行了系统误差分析。

全文目录

第一章绪论  7-11
  1．1 超导的发展  7-8
  1．2 超导电子器件的优越性  8-9
  1．3 高温超导薄膜  9-10
  1．4 工作内容  10-11
第二章高温超导的机理  11-18
  2．1 超导电性  11-12
  2．2 超导体的微波电阻  12-15
  2．3 超导薄膜微波表面电阻的特性  15-18
第三章测试原理  18-31
  3．1 高温超导薄膜微波表面电阻Rs的测试方法  18-21
    3．1．1 平面电路谐振器法[18]  18-19
    3．1．2 加载超导薄膜的介质谐振器法  19-20
    3．1．3 双蓝宝石圆柱介质谐振器法  20-21
  3．2 蓝宝石介质谐振器法  21-22
  3．3 理论分析  22-29
    3．3．1 理论模型  22-25
    3．3．2 A、B值的确定  25-29
  3．4 固有品质因素Q_0的测量  29-30
  3．5 小结  30-31
第四章测试系统的组建  31-39
  4．1 测试谐振器的研制  31-32
  4．2 谐振器固有品质因素Q_0的计算  32-36
  4．3 样品的制备  36
  4．4 测试系统的建立  36-39
第五章测试结果  39-47
  5．1 HTS薄膜的Rs测量  39-41
  5．2 误差分析  41-46
  5．3 讨论  46-47
第六章结论  47-49
致谢  49-56

高温超导薄膜微波表面电阻的测量

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