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超导薄膜的微波表面阻抗的测量

作　者: 王皓
导　师: 金飚兵
学　校: 南京大学
专　业: 无线电物理
关键词: 超导薄膜微波表面阻抗介质谐振器品质因数
分类号: O511
类　型: 硕士论文
年　份: 2010年
下　载: 29次
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内容摘要

微波表面阻抗是超导薄膜一个重要的特性参数,它不仅反映了超导薄膜的损耗,还可以得到磁穿透深度和超导能隙的有关信息,在超导物理和超导薄膜的电子学应用上都有重要的意义。镜像型蓝宝石介质谐振器法是利用TE01δ模式的蓝宝石介质谐振器测量超导薄膜的微波表面阻抗。该方法通过测量加载超导薄膜后介质谐振腔的固有品质因数和谐振频率随温度的变化来确定超导薄膜的微波表面阻抗。这种方法能够对单片超导薄膜进行无损测量,并且能较准确地测量出超导薄膜的微波表面阻抗。本文制作了一个工作在18.3GHz附近的蓝宝石介质谐振腔,构建了测试系统。利用该测试系统对超导薄膜的微波表面阻抗进行测试,它具有灵敏度高,重复性好,对薄膜无损伤等特点,提高了介质谐振器法测量超导薄膜微波表面阻抗的准确度和精度。

全文目录

目录  2-4
摘要  4-5
Abstract  5-7
第一章绪论  7-12
  1.1 超导发展  7-8
  1.2 超导薄膜  8
  1.3 超导薄膜的微波表面阻抗  8-12
第二章超导薄膜微波表面阻抗的测试方法  12-18
  2.1 谐振器法测量的基本公式  12-13
  2.2 圆柱腔谐振器法  13-14
  2.3 平行板谐振器法  14
  2.4 微带线谐振器法  14-15
  2.5 介质谐振器法  15-16
  2.6 双介质谐振器法  16
  2.7 镜像型蓝宝石介质谐振器法  16-18
第三章镜像型蓝宝石介质谐振器法  18-22
  3.1 测试方法的理论模型  18-20
  3.2 几何因子G的计算  20
  3.3 固有品质因数Q_0的测量  20-22
第四章镜像型蓝宝石介质谐振器法测试系统的建立  22-30
  4.1 概述  22-23
  4.2 蓝宝石介质柱  23
  4.3 金属屏蔽腔  23-25
  4.4 耦合环  25-26
  4.5 仿真  26-29
  4.6 测试系统  29-30
第五章镜像型蓝宝石介质谐振器法测试数据及分析  30-45
  5.1 谐振频率及Q_L  30-33
  5.2 R_s~(eff)(T)的计算  33-36
  5.3 δλ~(eff)(T)的计算  36-38
  5.4 λ(T)、R_s(T)和X_s(T)的计算  38-45
第六章总结  45-46
参考文献  46-48
致谢  48-49

超导薄膜的微波表面阻抗的测量

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