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电路板故障诊断系统测试程序开发环境的设计与实现

作　者: 卓林
导　师: 王厚军
学　校: 电子科技大学
专　业: 检测技术与自动化装置
关键词: 自动测试系统 TPS Visio控件 测试程序开发环境 故障显示
分类号: TN407
类　型: 硕士论文
年　份: 2011年
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内容摘要


自动测试技术是当今测试领域重点研究的热点问题之一,本论文主要研究基于Visio控件的雷达电路板自动测试系统测试程序开发环境的设计与实现。在我国航空航天工业中,雷达系统作为重要的组成部分,对其性能指标的要求非常严格,需要经常对其诊断和维修。随着雷达电路板种类的增多,传统的专用测试系统已经不能满足越来越复杂的要求;而且现阶段的多数自动测试系统需要编程,对测试人员要求很高。因此研制通用性好,零编程的自动测试系统有着十分重要的意义。本文首先介绍了自动测试系统的总体结构,分析国内外测试程序开发环境的应用现状,总结了国内的测试程序集(TPS)开发所面临的一些问题,进而提出了本开发环境的设计方向,即面向信号与零编程。测试程序开发环境通过引入基于Visio控件的测试策略开发工具,实现了测试过程的零编程。测试人员只需要在开发环境中编辑被测对象的测试策略图,进而利用开发环境提供的代码转换工具将测试策略转换为对应的测试源代码,最后使用编译工具对源代码进行编译就能得到能在运行环境运行的测试程序动态库。另外本模块还设计了故障显示和测试跟踪功能,故障显示通过解析PCB文件,获取元件的坐标,进而将其转化为元件在PCB图片上的像素坐标,最后使用像素坐标将故障元件突出显示到PCB原理图图片上;测试元件跟踪实现了在PCB图片上实时的显示当前正在测试的元件。本测试程序开发环境通过编辑测试策略流程图代替传统的直接编写源程序,降低了开发难度,提高了开发效率。基于PCB文件的故障显示能直观的展示测试结果,另外测试跟踪功能使测试人员更容易掌握整个测试的进度。面向信号测试技术让测试人员直接面向信号进行配置,形成了与仪器无关的TPS开发,增加和更换系统仪器非常方便,不需修改测试策略,提高了系统的开放性和通用性。

全文目录


摘要  4-5
ABSTRACT  5-8
第一章 绪论  8-12
  1.1 课题背景  8-9
  1.2 研究目的和意义  9-10
  1.3 论文工作及章节安排  10-12
第二章 测试程序开发环境分析  12-16
  2.1 TPS 总体结构概述  12-13
  2.2 几种TPS 开发环境结构比较  13-14
  2.3 TPS 功能和性能要求  14-15
  2.4 本章小结  15-16
第三章 测试程序开发环境需求分析  16-22
  3.1 需求分析的目的  16
  3.2 测试程序开发环境的设计目标  16-17
  3.3 测试程序开发环境的基本功能  17-20
  3.4 测试程序开发环境的设计技术  20-21
  3.5 本章小结  21-22
第四章 测试程序开发环境设计与实现  22-60
  4.1 测试程序开发环境总体结构  22
  4.2 开发环境设计思路  22-23
  4.3 ActiveX 绘图控件设计  23-36
    4.3.1 相关理论概述  23-25
    4.3.2 Visio 绘图控件开发  25-31
    4.3.3 流程图结构分析  31-34
    4.3.4 流程图代码转换  34-36
  4.4 流程图元设计  36-43
    4.4.1 流程图元概述  36-37
    4.4.2 流程图元设计思路  37-38
    4.4.3 流程图元的实现  38-43
  4.5 特殊图元设计  43-47
    4.5.1 分支图元设计  43-46
    4.5.2 循环图元设计  46-47
  4.6 编译模块设计  47-52
    4.6.1 编译模块设计方案  47-48
    4.6.2 编译模块实现  48-51
    4.6.3 设定函数调用约定  51-52
  4.7 故障显示设计  52-59
    4.7.1 概述  52-54
    4.7.2 边界位置信息提取  54-55
    4.7.3 轮廓及管脚信息提取  55-57
    4.7.4 显示故障图元  57
    4.7.5 测试元件跟踪  57-59
  4.8 本章小结  59-60
第五章 测试程序开发环境系统集成  60-65
  5.1 构建开发环境主框架  60-61
  5.2 嵌入 Visio 绘图控件  61-63
  5.3 为 Visio 控件添加配置界面  63
  5.4 创建测试大纲  63-64
  5.5 本章小结  64-65
第六章 测试程序开发环境的应用  65-72
  6.1 资源建模  65-66
  6.2 测试策略图开发  66-68
  6.3 代码转化与编译  68-69
  6.4 测试程序的运行  69-70
  6.5 本章小结  70-72
第七章 结束语  72-73
致谢  73-74
参考文献  74-76
攻读硕士期间取得的研究成果  76-77

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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 微电子学、集成电路（IC） > 一般性问题 > 测试和检验
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