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LXI自动测试系统集成技术研究
作 者: 杨林
导 师: 彭喜元
学 校: 哈尔滨工业大学
专 业: 仪器科学与技术
关键词: LXI 自动测试系统集成 XML IVI-COM
分类号: TP274
类 型: 硕士论文
年 份: 2008年
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内容摘要
LXI是LAN在仪器领域的扩展,具有灵活开放、低成本、长寿命等特点。LXI已经成为测试总线技术发展的方向。为使LXI能够成功应用于军用自动测试系统,本文对LXI系统集成技术进行了研究,并在此基础上组建了LXI演示系统。本文首先对LXI自动测试系统硬件体系结构进行了研究。其中纯LXI系统结构包括直连式、路由隔离式与PC隔离式;混合系统结构包括符合型与集成型。考虑到军用测试对安全性的要求,本文选择PC隔离式的集成型体系结构完成了LXI演示系统的硬件集成。本文进而以LXI-C类函数发生器模块为例,研究了LXI-C类仪器软、硬件接口技术以及模块开发方法。其中以太网硬件接口采用S3C4510B ARM7微处理器以及外围电路实现;软件接口与Web服务在μClinux系统下应用RPC等关键技术实现。接下来,本文对LXI自动测试系统软件开发技术进行了研究,具体包括测试应用程序开发技术、基于XML的测试信息描述技术以及IVI-COM驱动程序开发技术。在此基础上,本文在Visual Studio 2005环境下完成了LXI演示系统测试应用程序与LXI-C类函数发生器模块IVI-COM驱动程序的开发。最后,本文对LXI演示系统以及LXI-C类函数发生器模块进行了测试。测试与实验结果表明,演示系统设计合理,测试应用程序运行稳定,LXI接口工作可靠,函数发生器模块技术指标符合设计要求。
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全文目录
摘要 4-5 Abstract 5-9 第1章 绪论 9-18 1.1 课题来源、研究目的与意义 9 1.2 自动测试系统总线技术发展综述 9-12 1.3 LXI技术概述 12-14 1.3.1 从LAN到LXI 12 1.3.2 LXI发展现状 12-13 1.3.3 LXI的特点 13-14 1.4 自动测试系统软件技术综述 14-17 1.4.1 仪器驱动程序发展概述 14-15 1.4.2 测试应用程序发展概述 15-17 1.5 主要研究内容与论文结构 17-18 1.5.1 主要研究内容 17 1.5.2 论文结构 17-18 第2章 LXI自动测试系统硬件集成 18-30 2.1 LXI自动测试系统集成技术概述 18-19 2.2 LXI自动测试系统体系结构 19-26 2.2.1 LXI仪器概述 20-21 2.2.2 LXI系统拓扑结构 21-25 2.2.3 混合系统体系结构 25-26 2.3 LXI演示系统组建方案 26-29 2.3.1 LXI演示系统功能与需求分析 26-27 2.3.2 体系结构的选择 27-28 2.3.3 仪器设备的选择与集成 28-29 2.4 本章小结 29-30 第3章 LXI-C类仪器开发实例 30-49 3.1 LXI-C类函数发生器方案设计 30-34 3.1.1 设计要求与技术指标 30-31 3.1.2 硬件方案设计 31-33 3.1.3 软件方案设计 33-34 3.2 函数发生器硬件实现 34-40 3.2.1 硬件结构总览 34-35 3.2.2 嵌入式网络控制模块硬件实现 35-37 3.2.3 功能电路硬件实现 37-40 3.3 嵌入式驱动程序与调试面板程序开发 40-43 3.3.1 嵌入式驱动程序结构总览 40 3.3.2 嵌入式程序的交互式开发环境 40-41 3.3.3 SCPI指令解析函数设计 41-42 3.3.4 调试软面板程序 42-43 3.4 LXI-C类软件接口的实现 43-48 3.4.1 LAN配置 43-44 3.4.2 基于RPC技术的仪器发现 44-47 3.4.3 仪器网页的开发 47-48 3.5 本章小结 48-49 第4章 LXI自动测试系统软件开发 49-65 4.1 LXI自动测试系统软件开发环境与关键技术 49-51 4.1.1 软件开发环境的选择 49-50 4.1.2 软件开发的关键技术 50-51 4.2 LXI演示系统测试应用程序设计 51-58 4.2.1 测试应用程序设计目标与要求 51-52 4.2.2 测试应用程序软件框架 52-53 4.2.3 用户界面的设计与开发 53-55 4.2.4 信息管理模块设计 55-57 4.2.5 流程调度与执行模块设计 57-58 4.3 IVI-COM驱动程序开发实例 58-64 4.3.1 驱动程序框架的搭建 58-61 4.3.2 关键方法和属性的实现 61-63 4.3.3 驱动安装程序的开发 63-64 4.4 本章小结 64-65 第5章 调试与实验 65-76 5.1 LXI-C类函数发生器的调试 65-71 5.1.1 调试方案 65-66 5.1.2 参考电压扫描电路的调试 66-68 5.1.3 信号相位稳定性的提高 68 5.1.4 正弦信号幅频特性的补偿 68-71 5.2 LXI演示系统的调试 71-73 5.2.1 演示系统调试方案 71-72 5.2.2 调试中遇到的问题与解决方法 72-73 5.3 仪器互换性实验 73-75 5.3.1 IVI-COM驱动程序互换原理 73-74 5.3.2 互换性实验步骤及结果 74-75 5.4 本章小结 75-76 结论 76-77 参考文献 77-80 攻读学位期间发表的学术论文 80-82 致谢 82
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中图分类: > 工业技术 > 自动化技术、计算机技术 > 自动化技术及设备 > 自动化系统 > 数据处理、数据处理系统
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