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超高速二分频器电路的设计及其γ辐射研究
作 者: 程和远
导 师: 张玉明
学 校: 西安电子科技大学
专 业: 微电子学与固体电子学
关键词: 分频器 砷化镓HBT γ辐射 辐射效应 超高速
分类号: TN772
类 型: 硕士论文
年 份: 2011年
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内容摘要
高速分频电路在通信应用中是一个必不可少的部分,它广泛应用于锁相环式频率合成器,在锁相环式频率合成器中,分频器和VCO是工作在最高频率下的模块,它们的速度决定了整个系统的最高速度,它们的功耗往往占据系统整体功耗的很大部分,为了降低功耗,有时会使用分立的预分频器作为分频器组的第一级。本文采用1μm InGaP/GaAs HBT工艺,仿真设计了一款超高速二分频器,设计过程中在速度和功耗之间进行了折中,并采用60Coγ射线对所设计的分频器进行了1Mrad(Si)的辐射实验。研究了不同累积总剂量γ射线辐射前后该分频器主要参数的退化规律,探究其辐射效应、辐射损伤机理及抗辐射加固技术。本文主要工作包括:设计了一款超高速二分频器。基于CML结构,采用主—从结构的D触发器,设计由输入缓冲器、分频器核心部分、输出缓冲器和偏置电路组成的超高速二分频器,并对比设计基于ECL结构的分频器,考虑速度与功耗的折中,最终对基于CML结构的超高速二分频器进行了流片测试。进行了分频器γ辐射实验。基于国内现有的辐射实验环境,从同一批流片回来的分频器中共挑选12个特性相近的做为实验的辐射样品,进行了1Mrad(Si)的辐射实验,由HFY-1A钴源控制台控制,采用HFY-601固定式多路XY剂量率仪记录辐照剂量。辐照的剂量率为50rad/s,辐照实验是在室温不加偏置条件下进行。辐射前后测试了实验设计的分频器参数包括:最高工作频率、不同频率点的最低输入功率和输出功率、工作电压、静态工作电流,并计算出直流功耗。分析辐射前后的实验数据结果,总结了引起分频器参数变化的主要原因是电离辐射体损伤、氧化物电荷积累、感生Si/SiO2界面态和辐射过程中退火共同所致,并得出芯片抗γ辐射能力强的结论,同时对其它GaAs材料异质结组成的微波电路所进行的1Mrad(Si)γ辐射研究有参考价值。
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全文目录
摘要 3-4 Abstract 4-8 第一章 绪论 8-14 1.1 课题研究背景及意义 8-9 1.2 国内外发展和现状 9-10 1.3 论文的主要工作 10-11 1.4 论文的组织结构 11-14 第二章 超高速二分频器电路仿真及设计 14-30 2.1 砷化镓材料及其特性简介 14-17 2.1.1 砷化镓材料简介 14 2.1.2 GaAs材料与Si材料的特性比较 14-15 2.1.3 GaAs HBT的特点 15-17 2.2 分频器简介 17-18 2.3 电路设计及仿真 18-26 2.3.1 电路建模 18-19 2.3.2 分频器核心部分 19-21 2.3.3 输入缓冲器设计 21 2.3.4 输出缓冲器设计 21-22 2.3.5 偏置电路设计 22-23 2.3.6 系统结构图及仿真结果 23-24 2.3.7 版图设计及封装 24-26 2.4 基于ECL结构设计的分频器 26-28 2.4.1 ECL结构特点及分频器电路设计 26-27 2.4.2 仿真结果及结论 27-28 2.5 本章小结 28-30 第三章 分频器γ辐射实验 30-42 3.1 空间辐射环境 30-33 3.1.1 空间辐射环境 30-31 3.1.2 大气辐射环境 31-32 3.1.3 核辐射环境 32 3.1.4 其它辐射环境 32-33 3.2 辐射粒子与半导体材料的作用 33-34 3.3 辐射效应 34-35 3.3.1 总剂量效应 34 3.3.2 单粒子效应 34-35 3.4 双极电路的辐射损伤机理及其加固简介 35-36 3.5 InGaP/GaAs HBT二分频器的~(60)Co γ辐照效应研究 36-40 3.5.1 实验样品选取及安排 36-37 3.5.2 实验仪器和设备 37-38 3.5.3 辐照实验条件 38-39 3.5.4 实验过程 39-40 3.6 本章小结 40-42 第四章 分频器测试及分析 42-56 4.1 测试样品 42 4.2 测试仪器 42 4.3 分频器测试参数 42 4.4 测试过程 42-45 4.5 测试结果及分析 45-55 4.5.1 原始数据表 45-49 4.5.2 数据处理 49-52 4.5.3 结果分析 52-55 4.5.4 结论 55 4.6 本章小结 55-56 第五章 结束语 56-58 5.1 工作总结 56 5.2 研究展望 56-58 致谢 58-60 参考文献 60-64 研究成果 64-65
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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 基本电子电路 > 倍频器、分频器、变频器 > 分频器
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