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无掩模光刻系统研究
作 者: 赵圣哲
导 师: 富丽晨;陈大鹏
学 校: 长春理工大学
专 业: 微电子学与固体电子学
关键词: 无掩模光刻 微尖端阵列 阵列并行直写
分类号: TN305.7
类 型: 硕士论文
年 份: 2010年
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内容摘要
本论文所提出的微尖端阵列无掩模光刻系统扩展了纳米加工的手段,是未来光刻技术发展的一种趋势。通过对本系统的研究,无需掩模,微尖端的发射电流就可直接曝光光刻胶,进行图形生成及加工,还通过阵列并行直写大大提高了工作效率。取得的主要研究成果如下:1,设计并制做了无掩模光刻系统中的核心器件—微尖端阵列器件,开发了一整套用于制作微尖端阵列器件的MEMS制作工艺,并创新的提出了使用微尖端阵列来进行电子束直写。2,完整的制作了一套无掩模光刻平台,并完成了CIF版图文件到微动台可识别的二进制编码的转换。3,对微尖端阵列器件发射电子的能力进行了测试,取得了理想的测试结果。
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全文目录
摘要 4-5 ABSTRACT 5-7 第一章 绪论 7-13 1.1 研究背景 7-8 1.2 下一代光刻技术简介 8-12 1.3 论文主要研究内容 12-13 第二章 光刻技术的基本原理及无掩模光刻系统总体分析 13-22 2.1 传统光学光刻技术的基本原理 13-15 2.2 电子束直写技术原理 15-17 2.3 无掩模光刻系统总体分析 17-22 第三章 微尖端阵列器件的分析与制作 22-30 3.1 微尖端阵列器件的理论分析 22-25 3.2 微尖端阵列器件的版图设计及工艺流程 25-30 第四章 版图文件的重构和转化 30-34 4.1 版图文件的简化 30-31 4.2 CIF版图文件的处理 31-34 第五章 无掩模光刻系统的搭建及对系统的测试 34-41 5.1 真空系统搭建 34-35 5.2 无掩模光刻系统的无缝拼接 35-37 5.3 无掩模光刻系统的测试 37-40 5.4 对实验结果的分析 40-41 结论 41-43 致谢 43-44 参考文献 44-46
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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 半导体技术 > 一般性问题 > 半导体器件制造工艺及设备 > 光刻、掩膜
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