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使用GOPELBSCAN测试系统提高测试向量的覆盖率的研究

作　者: 汪国桢
导　师: 祝永新；李宇昕
学　校: 上海交通大学
专　业: 软件工程
关键词: 边界扫描 Boundary-Scan JTAG 测试向量测试覆盖率
分类号: TP274
类　型: 硕士论文
年　份: 2009年
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内容摘要

本课题使用德国GOPEL公司的边界扫描测试开发平台PPSV3以及CASCON开发环境进行Boundary-Scan测试向量的生成,研究模块为诺基亚西门子通讯(上海)有限公司为鼎桥(TD-TECH)通讯技术有限公司生产的TD-SCDMA基站核心控制模块。本文主要研究如何生成被测模块的测试向量以及就如何提高测试向量的覆盖率进行讨论,在测试开发环境自动生成的测试向量的基础上,针对非BSCAN器件的测试进行研究,通过分析电路结构与特点,编写相对应的测试向量,以尽可能的提高测试向量的覆盖率。同时,本文特别针对RAM的测试算法和故障定位能力进行分析论证,探索出最具效率的测试算法与测试方式,并达到较高的RAM测试效率。

全文目录

摘要  6-7
ABSTRACT  7-8
目录  8-10
图录  10-12
符号说明  12-13
第一章绪论  13-20
  1.1 BOUNDARY-SCAN 背景介绍  13-15
  1.2 BSCAN 接口定义  15
  1.3 BSCAN TAP 介绍  15-17
  1.4 BSCAN CELL 介绍  17
  1.5 JTAG 指令  17-20
第二章GOPEL BSCAN 测试设备以及测试环境  20-23
  2.1 测试设备--PPSV3 的结构  20-21
  2.2 测试操作界面  21-22
  2.3 本章小结  22-23
第三章测试向量的生成  23-40
  3.1 网表的转换，元器件库的定义以及SCANPATH 的生成  23-28
    3.1.1 DFT 文件准备  23
    3.1.2 CAD 文件导入  23-24
    3.1.3 模块与设备的NETLIST 的合并  24-25
    3.1.4 元器件库定义  25-26
    3.1.5 NETLIST 与元器件库的连接  26-27
    3.1.6 JTAG 链路的构建  27-28
  3.2 测试向量的生成  28-39
    3.2.1 JTAG 链路测试  28-30
    3.2.2 互连测试  30-34
    3.2.3 RAM 测试算法  34-36
      3.2.3.1 走步1 算法（WALK-1）  35
      3.2.3.2 走步0 算法（WALK-0）  35
      3.2.3.3 改良记数序列算法  35-36
      3.2.3.4 记数/补偿算法  36
      3.2.3.5 等权值抗混迭算法  36
    3.2.4 簇测试  36-38
    3.2.5 CPLD 器件的编程  38-39
  3.3 本章小结  39-40
第四章测试效率以及覆盖率提高  40-64
  4.1 RAM 测试效率的提高  40-46
    4.1.1 RAM 测试算法综合分析与改进  40-42
    4.1.2 RAM 测试的故障定位分析  42-44
    4.1.3 测试向量效率的结果分析  44-46
  4.2 测试覆盖率的提高  46-58
    4.2.1 led 的测试  46-47
    4.2.2 时钟信号的测试  47-49
    4.2.3 电源的控制  49-50
    4.2.4 开关的测试  50-52
    4.2.5 低通电路的测试  52-53
    4.2.6 I~2C 接口的EEPROM 的测试  53-56
    4.2.7 TCK 的测试  56-57
    4.2.8 其他的手动(Manual)测试  57
    4.2.9 测试覆盖率的结果分析  57-58
  4.3 FLASH 测试及编程  58-59
  4.4 测试流程的编程  59-62
  4.5 本章小结  62-64
第五章总结与展望  64-66
  5.1 论文总结  64
  5.2 展望  64-66
参考文献  66-68
附录1 采用MSCA 算法编写的RAM 程序  68-84
附录2 系统测试报告  84-90
致谢  90-91
攻读学位期间发表的学术论文  91

使用GOPELBSCAN测试系统提高测试向量的覆盖率的研究

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