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MOCVD反应室温度场的研究
作 者: 李琼
导 师: 徐龙权
学 校: 南昌大学
专 业: 电机与电器
关键词: COMSOL 温度场 均匀性 结构优化
分类号: TN304.055
类 型: 硕士论文
年 份: 2013年
下 载: 35次
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内容摘要
MOCVD(金属有机物化学沉淀)是生产发光材料的大型设备。硅基衬底在反应室提供的环境下生长成发光材料。在硅基衬底的生长过程中,温度对其影响尤为重要。温度分布的均匀性直接影响着发光材料中薄膜沉积的质量以及厚度的一致性,最终决定材料的发光性能。本文首先从理论入手,结合有限元分析软件COMSOL的热--电耦合模块和共轭传热模块,研究MOCVD反应管多种结构参数下石墨盘表面温度场的分布情况。经过模拟计算发现,加热电阻丝的排列方式、基座与电阻丝的距离、基座与喷淋盖的距离、反射板位置与高度、分区加热功率、气体入口流速等因素均对温度场的分布有所影响。论文根据影响的变化情况寻找规律,为反应室结构设计和优化提供理论基础。然后,整合各分块优化参数,对反应室结构进行初步设计。利用有限元分析软件对温度场进行模拟分析计算后发现,该结构仍有不足。根据计算结果,对反应室结构进行优化处理,提出五种优化方案,使得优化后的反应室结构能为硅基衬底的生长提供适宜的温度环境。最后将本文设计的反应室腔体应用在37×2"MOCVD设备上进行外延生产试验。试验结果表明,通过设备外延生产出的发光材料品质优良,外延片各层厚度比较均匀,单片及片间波长均达到455±3nm。
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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 半导体技术 > 一般性问题 > 材料 > 一般性问题 > 制取方法与设备 > 半导体薄膜技术
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