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基于多总线自动测试系统的测试与诊断技术研究
作 者: 邱云萍
导 师: 王学伟
学 校: 北京化工大学
专 业: 控制科学与工程
关键词: 多总线 自动测试系统 故障诊断 TPS LXI
分类号: TN407
类 型: 硕士论文
年 份: 2012年
下 载: 96次
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内容摘要
工业科技发展得十分迅速,尤其在电子方面,电路向体积小、集成度高、功能全的趋势发展。各种电子设备的性能越来越高,复杂的设备结构加大了设备故障检测的困难,故而,早年采用的人工测试法的各种弊端愈来愈突出。人工测试对测试人员要求高、测试周期长且在测试过程中损坏贵重仪器的可能性大。人们迫切希望一种新的能满足时代测试需求的测试系统的产生,于是自动化测试系统应运而生了。伴着测试总线、虚拟仪器、程控接口、人工智能等技术的发展,自动测试系统逐步改进,在电子设备的各种测试与故障诊断领域中发挥了显著的作用。本文系统分析了多总线自动化测试系统的几项关键技术及其发展与应用,并研究了自动测试系统的电路测试与诊断技术。围绕几种测试总线的功能与相应的计算机技术,将自动测试技术分别应用于短距离无线通信模块的自动测试控制软件、基于多总线自动化测试系统的故障诊断和低压电力线载波阻抗自动化测试系统三部分。短距离无线通信模块的自动测试控制软件是由计算机通过GPIB总线,发送SCPI指令来控制几台测试仪器的运行,从而完成发射性能和接收性能的测试。基于多总线自动化测试系统的故障诊断则是采用了由GPIB、IEEE1394、VXI三总线构建的自动测试系统,在TPS软件资源下对电路板进行功能测试与故障诊断,并加入了基于遗传算法的支持向量机分类器,提高了故障诊断的正确率。低压电力线载波阻抗自动化测试系统在原有的USB、GPRS通信方式上增加了LXI通信方式,使阻抗的自动化测试更加方便。多总线自动化测试系统在测试和故障诊断方面的应用向通用化和智能化前进。它有力的推动了工业的发展,提高了经济效益与安全度。
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全文目录
摘要 4-6 ABSTRACT 6-14 第一章 绪论 14-22 1.1 选题的背景与意义 14-15 1.2 多总线自动化测试系统的发展与关键技术 15-19 1.2.1 自动化测试系统的组成和发展 15-16 1.2.2 多总线自动测试系统的关键技术 16-19 1.3 测试诊断技术的发展 19-20 1.4 本文的主要研究内容 20-22 第二章 短距离无线通信模块的自动测试系统构建与软件开发 22-36 2.1 通信板测试系统的硬件构建 22-23 2.2 通信板测试系统的软件设计 23-27 2.2.1 VISA 函数库与 SCPI 指令 23-25 2.2.2 人机接口用户界面设计 25-26 2.2.3 设备连接初始化设置 26-27 2.3 通信电路板的发射性能测试 27-32 2.3.1 发射功率测试 28-30 2.3.2 占用带宽测试 30-31 2.3.3 频率偏移测试 31 2.3.4 杂散发射测试 31-32 2.4 通信电路板的接收性能测试 32-34 2.4.1 容限测试 32-34 2.4.2 接收灵敏度测试 34 2.5 本章小结 34-36 第三章 板级电路测试诊断的多总线自动测试系统组建 36-46 3.1 多总线自动测试系统的构成 36-41 3.1.1 VXI 总线机箱 36-39 3.1.2 程控电源与适配器 39-40 3.1.3 主控计算机 40-41 3.2 电路板的测试诊断开发过程 41-45 3.2.1 电路板的需求分析 41-42 3.2.2 适配板的设计 42-43 3.2.3 测试诊断与故障隔离的方法选择 43-44 3.2.4 测试诊断程序的编写 44-45 3.3 本章小结 45-46 第四章 接口电路板故障诊断的软硬件设计 46-80 4.1 接口板的电路分析与需求统计 46-52 4.1.1 开机供电电路分析 47-48 4.1.2 继电器控制电路分析 48-50 4.1.3 安全控制电路分析 50-51 4.1.4 故障控制电路分析 51 4.1.5 接口板的电路需求统计 51-52 4.2 接口电路测试诊断的软硬件设计 52-68 4.2.1 测试诊断的硬件设计 52-56 4.2.2 测试诊断的软件设计 56-68 4.3 接口板测试诊断实验分析 68-74 4.3.1 接口板的功能测试实验 68-71 4.3.2 接口板的故障诊断实验 71-73 4.3.3 接口板测试诊断结果分析 73-74 4.4 基于 GA-SVM 的故障诊断 74-78 4.4.1 支持向量机原理 74-75 4.4.2 GA-SVM 分类器算法 75-76 4.4.3 基于 GA-SVM 的比较器驱动电路故障诊断 76-78 4.5 本章小结 78-80 第五章 DZ3 载波阻抗终端 LXI 通信方式测试 80-88 5.1 DZ3 载波阻抗测试装置 80-81 5.2 终端 LXI 通信方式的调测 81-87 5.2.1 命令收发及处理的程序设计 82-83 5.2.2 终端 LXI 通信方式测试 83-86 5.2.3 测试结果分析 86-87 5.3 本章小结 87-88 第六章 结论与展望 88-90 6.1 结论 88-89 6.2 展望 89-90 参考文献 90-94 致谢 94-96 研究成果及发表的学术论文 96-97 作者与导师简介 97-99 硕士研究生学位论文答辩委员会决议书 99-100
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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 微电子学、集成电路(IC) > 一般性问题 > 测试和检验
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