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红外成像系统MRTD测试技术研究
作 者: 陈振兴
导 师: 付跃刚
学 校: 长春理工大学
专 业: 仪器科学与技术
关键词: 红外成像系统 仪器常数 有限距离成像 MRTD TOD CCD线性区
分类号: TN215
类 型: 硕士论文
年 份: 2011年
下 载: 98次
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内容摘要
红外成像系统是现代光电系统的重要组成部分,先进红外成像系统的发展离不开与之相适应的测试设备和测试手段。本文针对红外成像系统MRTD试验鉴定技术中存在的一些具体技术问题,在分析当前红外成像系统特点的基础上,研究了采用高精度成像式红外测温仪测温的仪器常数标定方法,建立了标定计算模型;针对试验前产品聚焦状态问题,研究了采用图像处理方法进行精确对焦的试验方法,并编制了相应测试软件;分析了现行标准下MRTD测试存在的技术问题,研究了有限距离成像MRTD试验技术;研究了基于刀口成像特性分析的MRTD定量测试分析技术,并针对图像采集CCD线性区标定问题,提出了基于图像处理的快速标定方法;建了TOD性能测试系统,初步开展了TOD测试技术研究。
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全文目录
摘要 4-5 ABSTRACT 5-6 目录 6-7 第一章 绪论 7-12 1.1 红外成像系统原理与发展 7-8 1.2 红外成像系统性能评定研究情况 8-10 1.3 研究目的与意义 10-11 1.4 研究内容 11-12 第二章 红外系统性能测试设备及标定 12-21 2.1 通用测试设备 12-14 2.2 NETD与MRTD 14-15 2.3 仪器常数标定技术研究 15-20 2.4 小结 20-21 第三章 精确对焦技术研究 21-25 3.1 对焦状态对MRTD测试的影响 21 3.2 精确对焦技术研究 21-24 3.3 小结 24-25 第四章 MRTD测试技术研究 25-38 4.1 传统MRTD试验方法 25 4.2 传统MRTD测试存在问题分析 25-30 4.3 MRTD测试技术的适应性改进 30-34 4.4 MRTD与温度相关性 34-37 4.5 小结 37-38 第五章 MRTD定量测试技术研究 38-48 5.1 主观测试的影响因素 38-39 5.2 刀口成像特性分析定量测试技术研究 39-42 5.3 定量测试前CCD线性工作区的快速标定研究 42-47 5.4 小结 47-48 第六章 TOD测试技术初步研究 48-52 6.1 TOD测试技术简介 48-49 6.2 TOD测试系统的建立 49-50 6.3 测试与讨论 50-51 6.4 小结 51-52 总结与展望 52-53 致谢 53-54 参考文献 54-55
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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 光电子技术、激光技术 > 红外技术及仪器 > 红外探测、红外探测器
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