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铅系弛豫铁电陶瓷的制备和介电性能的研究
作 者: 崔斌
导 师: 田长生
学 校: 西北工业大学
专 业: 材料学
关键词: 半化学法 钙钛矿相 弛豫铁电体 PMN基陶瓷 PNN基陶瓷 PFW基陶瓷 PMW-PNN-PT陶瓷 “芯-壳”结构 低温烧结技术 介电性能 介电温度稳定性
分类号: TM282
类 型: 博士论文
年 份: 2002年
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内容摘要
本文发展了弛豫铁电陶瓷的制备技术,提出了兼具传统氧化物混合法(CMO法)、二次合成法(CPM法)和湿化学法(CPM法)特点的半化学法(SCH法);采用SCM法制备了钙钛矿结构的PMN基、PNN基、PFW基和PMW-PNN-PT系陶瓷;系统研究了制备工艺、过量反应物组分、钙钛矿相稳定剂PbTiO3(PT)和改性剂MnO2等对陶瓷的相结构、显微组织及介电性能的影响;优化了SCM法制备工艺。分析了SCM法与CMO法、CPM法在工艺上的差别,并提出了SCM法制备PMN-PT和PFW粉体的固态反应机理。同时研究了具有代表性的助烧剂对PMN-PT陶瓷的烧结温度、相组成、显微组织及介电性能的影响规律。将SCM法和“芯-壳”结构法相结合,制备了低烧高介的具有化学成分和结构不均匀的“芯-壳”结构的PMW-PNN-PT陶瓷,并研究了“芯-壳”结构的形成机理及其改善介电温度稳定性的机制,探讨了满足X7R特性陶瓷的制备工艺。 在PMN-PT体系中,研究了反应物前驱体,如Pb(AC)2、Mg(NO3)2、Ti(OC4H9)4分别代替PbO、MgO、TiO2等对预烧粉体钙钛矿相形成的影响。结果表明:采用可溶性的醋酸镁或硝酸镁溶液代替MgO,可在分子水平上提高MgO的分散性,并且在低温分解形成“新生态”MgO的具有很高的反应活性,能够促进焦绿石相向钙钛矿相转化,且在钛酸丁酯活化TiO2组分的协同作用下,得到了与化学法相近的结果。SCM法制备PMN-PT粉体的预烧工艺是800℃~850℃,2h~4h,烧结工艺为950℃~1200℃,1h~2h。 在PNN-PT体系中,采用SCM法在不添加稳定剂PT和过量NiO,便可获得纯钙钛矿结构的陶瓷;该体系粉体的预烧工艺为850℃,2h~3h,烧结工艺为1100℃~1200℃,1h~2h。掺锰后,PNN-PT陶瓷样品的介电常数虽然稍有降低,但陶瓷样品的介电损耗明显降低,较合适的掺锰量为0.5(mol)%。 在PFW-PT体系中,粉体的预烧工艺是800℃~850℃,1h~3h,烧结工艺为870℃,2h~3h;添加过量PbO和过量Fe2O3都能提高PFW预烧粉体和陶瓷的钙钛矿相含量以及陶瓷的介电常数,但添加过量Fe2O3明显增大了介电损耗。掺锰有利于稳定PFW钙钛矿相,且随着掺锰量的增加,陶瓷的介电常数先增加后降低,介电损耗急剧下降,电阻率明显提高,介电性能得到明显改善,较合适的掺锰量为1.0(mol)%;添加PT能够提高PFW的稳定性,随着PT含量的递增,陶瓷的晶粒尺寸略有增大,而且密度也有所增加,陶瓷的居里温度逐渐升高,弥散相变度逐渐下降,介电常数逐渐增大。 SCM法与CPM法的工艺相比,工艺简单,预烧温度和烧结温度低,反应时间短;陶瓷致密,介电性能比CMO法和CPM法明显得到改善,而且在没有PT存在时,仍可制得纯钙钛矿结构的PMN基、PNN基、PFW基陶瓷。在反应机理上,对于PMN-PT陶瓷,在SCM法中生成了不稳定的、缺B位的焦绿石相Pb3Nb2O8,该中间体极易转变成钙钛矿相;CMO法生成稳定的焦绿石相Pb3Nb4O13,难以转变成钙钛矿相。对于PFW陶瓷,SCM法是在较低的温度下,由PbWO4直接与“新生态” 崔斌 西北工业大学博士论文的Fe。0。反应形成焦绿石相PbFeWO。。;而删 是在较高的温度下,Pbbo4继续与Pbo反应生成PbW。0。,然后Pbb。0。才能与反应活性差和分散性差的Fe。0。反应形成PbFeFO。。;最后再转化为钙钛矿结构的PFW。在SCM法中,PFW和州N干T的反应机理的区别是,前者形成的中间相为PbFeWO。。,后者的中间相为比。Nb。0。。 在比、Pbo-Bi公、Ph(Cd;/zw;/。川。、Ph(Cll;/。W;;。)0。和“ 作为PW-PT陶瓷助烧剂的研究中发现,Pbo作为助烧剂,属于液相烧结机制,在烧结中后期,Pbo会停留在晶粒表面,因稀释铁电相而恶化介电性能。在比 和Bi。0。作为复合助烧剂,相比单独采用阶 助烧剂的介电性能明显提高;Ph(Cd;/;W;/。)03和盯(Cll;/。W;/。)0。均为钙钛矿结构,前者能够明显降低PWi-PT陶瓷的介电损耗,后者能够明显提高陶瓷样品的致密度。Cdo作为助烧剂,能够进入复合钙钛矿结构的A位而取代铅,因此形成晶格缺陷而促进烧结。添加 2.0(mol)%的比 或 3.0(mol)%的阶(Cd1。zw;。。)0。、Ph(Cll;;ZW;;。川。、Pbo-Bi仙混合助烧剂(摩尔比为1:1:1)都达到了理想的助烧效果,可将烧结温度降低到900oC,且介电性能优良,样品介电常数分别不小于IS000和 22000,介电损耗分别不大于 0.05和 0.15。 在PW-PNN-PT体系中,当烧结温度高于1000oC时,钙钛矿相开始分解,使陶瓷成为“芯-壳”结构,介电常数虽然降低,但介电温度稳定性提高了。制备介电温度稳定性高的陶瓷的合适烧结温度为1100~1150oC;添加过量吨 有利于稳定钙钛矿相和提高陶瓷的介电常数:过量的 和wo。明显使陶瓷的钙钛矿相含量减少,介电常数降低,但有利于陶瓷“芯一壳”结构的形成及其介电温度稳定性的改善;Pbo过量的缺点是导致陶瓷的介电损耗增大。 “芯一壳”结构的形成机制是:在过量WO。和较高的烧结温度下,钙钛矿相分解成钨酸铅液相,从过渡层向晶粒边界(壳层)扩散,其结果使过渡层的W减少,富集Nb、Ti、Ph;壳
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全文目录
中文摘要 4-6 英文摘要 6-10 目录 10-15 第一章 绪论 15-32 1.1 研究的背景与意义 15-16 1.2 弛豫铁电陶瓷的研究现状及存在的问题 16-27 1.2.1 弛豫铁电陶瓷的特征 16-17 1.2.2 弛豫特性的机制简介 17 1.2.3 制备技术 17-21 1.2.4 制备反应机理 21-23 1.2.5 低温烧结技术 23-25 1.2.5.1 改善低温烧结的PFW陶瓷的低电阻率缺点 23-24 1.2.5.2 添加低熔点玻璃或化合物 24 1.2.5.3 形成固溶体 24-25 1.2.5.4 提高粉体活性 25 1.2.6 介电温度稳定性的研究 25-27 1.2.6.1 微量掺杂法 25-26 1.2.6.2 复相陶瓷烧结法 26 1.2.6.3 叠层技术 26 1.2.6.4 “芯-壳”结构法 26-27 1.3 论文的主要研究内容及技术路线 27-28 1.4 本文的主要成果及创新 28 参考文献 28-32 第二章 实验方法 32-38 2.1 陶瓷样品的制备工艺 32-35 2.1.1 半化学法制备工艺 32-33 2.1.2 低温烧结陶瓷的制备工艺 33-35 2.1.3 “芯-壳”结构陶瓷的制备工艺 35 2.2 陶瓷的相组成分析 35 2.3 微观组织分析 35 2.4 TG、DTG、DTA、DSC热分析 35 2.5 陶瓷样品的密度 35-36 2.6 陶瓷样品的线收缩率 36 2.7 陶瓷样品的介电性能 36 2.8 陶瓷样品的介电温度稳定性 36-37 2.8.1 单相固溶体陶瓷样品的介电温度稳定性 36-37 2.8.2 “芯-壳”结构陶瓷的介电温度稳定性 37 2.9 陶瓷样品中各元素含量的分析 37-38 第三章 半化学法制备PMN基陶瓷及介电性能的研究 38-55 3.1 前言 38-39 3.2 活化反应组分的选择 39-43 3.2.1 活化MgO、PbO和TiO_2对0.80PMN-0.20PT相组成的影响 39-40 3.2.2 不同镁的化合物代替氧化镁对0.80PMN-0.20PT相组成的影响 40 3.2.3 钛酸四丁酯和醋酸镁的协同作用及醋酸对PMN-PT相组成的影响 40-42 3.2.4 钙钛矿结构籽晶对0.80PMN-0.20PT相组成的影响 42-43 3.2.5 半化学法中镁盐的选择原则 43 3.3 半化学法制备0.80PMN-0.20PT陶瓷的工艺及介电性能研究 43-49 3.3.1 制备工艺参数对0.80PMN-0.20PT陶瓷相组成的影响 43-45 3.3.1.1 预烧温度对0.80PMN-0.20PT预烧粉体相组成的影响 43-44 3.3.1.2 预烧时间对0.80PMN-0.20PT预烧粉体相组成的影响 44 3.3.1.3 烧结温度和保温时间对0.80PMN-0.20PT陶瓷相组成的影响 44-45 3.3.2 制备工艺参数对0.80PMN-0.20PT显微组织的影响 45-48 3.3.3 制备工艺参数对0.80PMN-0.20PT陶瓷介电性能的影响 48-49 3.3.3.1 预烧温度对陶瓷介电性能的影响 48 3.3.3.2 烧结温度对陶瓷介电性能的影响 48-49 3.4 半化学法与传统氧化物混合法和二次合成法的比较 49-52 3.4.1 制备工艺的比较 49-50 3.4.2 SCM法和CMO法相组成的比较 50-51 3.4.3 显微组织的比较 51 3.4.4 介电性能的比较 51-52 3.5 PT含量对PMN-PT显微结构和介电性能的影响 52-53 3.6 本章小结 53-54 参考文献 54-55 第四章 半化学法制备PNN基陶瓷及介电性能的研究 55-71 4.1 前言 55 4.2 半化学法制备0.75PNN-0.25PT陶瓷的工艺及介电性能的研究 55-59 4.2.1 制备工艺参数对0.75PNN-0.25PT预烧粉体相组成的影响 55-57 4.2.1.1 预烧温度对0.75PNN-0.25PT预烧粉体相组成的影响 55-56 4.2.1.2 烧结温度和保温时间对0.75PNN-0.25PT陶瓷相组成的影响 56-57 4.2.2 制备工艺参数对0.75PNN-0.25PT陶瓷显微组织的影响 57-58 4.2.3 制备工艺参数对0.75PNN-0.25PT陶瓷介电性能的影响 58-59 4.2.3.1 烧结温度对陶瓷介电性能的影响 58-59 4.2.3.2 保温时间对陶瓷介电性能的影响 59 4.3 过量NiO对0.75PNN-0.25PT陶瓷显微结构和介电性能的研究 59-62 4.3.1 过量NiO对0.75PNN-0.25PT预烧粉体相组成的影响 59-60 4.3.2 过量NiO对0.75PNN-0.25PT陶瓷相组成的影响 60 4.3.3 过量NiO对0.75PNN-0.25PT显微组织的影响 60-61 4.3.4 过量NiO对0.75PNN-0.25PT陶瓷介电性能的影响 61-62 4.4 PT含量对0.75PNN-0.25PT显微结构和介电性能的影响 62-66 4.4.1 PT含量对0.75PNN-0.25PT陶瓷相组成的影响 63 4.4.2 PT含量对0.75PNN-0.25PT陶瓷显微组织的影响 63-64 4.4.3 PT含量对0.75PNN-0.25PT陶瓷介电性能的影响 64-66 4.5 掺锰对PNN-PT陶瓷显微结构及介电性能的影响 66-69 4.5.1 掺锰对0.75PNN-0.25PT陶瓷相组成的影响 66-67 4.5.2 掺锰对0.75PNN-0.25PT陶瓷显微组织的影响 67-68 4.5.3 掺锰对0.75PNN-0.25PT陶瓷介电性能的影响 68-69 4.6 本章小结 69-70 参考文献 70-71 第五章 半化学法制备PFW基陶瓷及介电性能的研究 71-88 5.1 前言 71-72 5.2 半化学法制备PFW陶瓷的工艺及介电性能的研究 72-75 5.2.1 铁盐的选择 72 5.2.2 制备工艺参数对PFW陶瓷相结构的影响 72-73 5.2.2.1 预烧温度和保温时间对PFW预烧粉体相结构的影响 72-73 5.2.2.2 烧结温度和保温时间对PFW陶瓷相结构的影响 73 5.2.3 制备工艺参数对PFW显微组织的影响 73-74 5.2.4 制备工艺参数对PFW陶瓷介电性能的影响 74-75 5.2.4.1 预烧温度对介电性能的影响 74-75 5.2.4.2 烧结温度和保温时间对介电性能的影响 75 5.3 过量PbO及Fe_2O_3对PFW陶瓷显微结构和介电性能的影响 75-78 5.3.1 过量PbO及Fe_2O_3对PFW预烧粉体和陶瓷相结构的影响 75-76 5.3.2 过量PbO及Fe_2O_3对PFW陶瓷显微组织的影响 76-77 5.3.3 过量PbO及Fe_2O_3对PFW陶瓷介电性能的影响 77-78 5.4 半化学法与传统氧化物混和法和二次合成法的比较 78-80 5.4.1 制备工艺的比较 78 5.4.2 相组成的比较 78-79 5.4.3 显微组织的比较 79-80 5.4.4 介电性能的比较 80 5.5 掺锰对PFW陶瓷显微结构及介电性能的影响 80-83 5.5.1 掺锰对PFW陶瓷相结构的影响 81 5.5.2 掺锰对PFW陶瓷显微组织的影响 81 5.5.3 掺锰对PFW陶瓷电阻率影响 81-82 5.5.4 掺锰对PFW陶瓷介电性能的影响 82-83 5.6 PT含量对PFW-PT显微结构和介电性能的影响 83-85 5.6.1 PT含量对PFW-PT陶瓷相结构的影响 83-84 5.6.2 PT含量对PFW-PT陶瓷显微组织的影响 84 5.6.3 PT含量对PFW-PT陶瓷介电性能的影响 84-85 5.7 本章小结 85-86 参考文献 86-88 第六章 半化学法制备PMN基、PFW陶瓷粉体反应机理的研究 88-98 6.1 前言 88 6.2 半化学法制备PMN-PT陶瓷粉体的固态反应机理 88-92 6.2.1 预烧粉体的相组成分析 88-91 6.2.2 PMN-PT的固态反应机理 91 6.2.3 SCM法和SMO法反应机理的比较 91-92 6.3 半化学法制备PFW陶瓷粉体反应机理的研究 92-95 6.3.1 预烧粉体的相组成分析 92-94 6.3.2 PFW的固态反应机理 94 6.3.3 SCM法和SMO法反应机理的比较 94-95 6.4 本章小结 95-96 参考文献 96-98 第七章 助烧剂对0.80PMN-0.20PT陶瓷显微结构和介电性能的影响 98-109 7.1 前言 98 7.2 复合助烧剂的陶瓷显微结构和介电性能的影响 98-103 7.2.1 样品的相组成 98-99 7.2.2 样品的显微组织 99-100 7.2.3 样品介电性能 100-103 7.3 掺CdO对0.80PMN-0.20PT陶瓷显微结构和介电性能的影响 103-108 7.3.1 掺CdO的0.80PMN-0.20PT陶瓷相组成 103-104 7.3.2 样品烧结前后质量变化 104-105 7.3.3 掺CdO样品的显微组织 105-106 7.3.4 掺CdO陶瓷的介电性能 106-108 7.3.4.1 烧结温度对掺CdO陶瓷介电性能的影响 106-107 7.3.4.2 掺杂CdO量对陶瓷样品介电性能的影响 107-108 7.4 本章小结 108 参考文献 108-109 第八章 PMW-PNN-PT陶瓷的制备及其介电温度稳定性的研究 109-126 8.1 前言 109-110 8.2 烧结温对陶瓷相组成、显微组织及其介电性能的影响 110-112 8.2.1 烧结温度对PMW-PNN-PT陶瓷相组成的影响 110-111 8.2.2 烧结温度对PMW-PNN-PT陶瓷显微组织的影响 111 8.2.3 烧结温度对PMW-PNN-PT陶瓷介电性能的影响 111-112 8.3 过量MgO、PbO和WO_3对陶瓷显微结构及介电性能的影响 112-115 8.3.1 对PMW-PNN-PT预烧粉体相结构的影响 112-113 8.3.2 对PMW-PNN-PT陶瓷相结构的影响 113 8.3.3 对PMW-PNN-PT陶瓷显微组织的影响 113-114 8.3.4 对PMW-PNN-PT陶瓷介电性能的影响 114-115 8.4 组成配比对陶瓷显微结构及介电性能的影响 115-117 8.4.1 组成配比对xPMW-yPNN-(1-x-y)PT陶瓷相结构的影响 115 8.4.2 组成配比对xPMW-yPNN-(1-x-y)PT陶瓷显微组织的影响 115-116 8.4.3 组成配比对xPMW-yPNN-(1-x-y)PT陶瓷介电性能的影响 116-117 8.5 SCM法与CMO法和CPM法的比较 117-120 8.5.1 制备工艺比较 117 8.5.2 相组成比较 117-118 8.5.3 显微组织比较 118 8.5.4 介电性能比较 118-119 8.5.5 半化学法对PMW-PNN-PT陶瓷介电温度稳定性的影响 119-120 8.6 PMW-PNN-PT陶瓷的“芯-壳”结构的形成机制 120-123 8.7 “芯-壳”结构改善陶瓷介电温度稳定性的机制 123-124 8.8 本章小结 124-125 参考文献 125-126 第九章 全文结论和进一步研究工作的建议 126-130 9.1 全文主要结论 126-128 9.2 进一步研究工作的建议 128-130 致谢 130-131 攻读博士学位期间发表的学术论文 131
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中图分类: > 工业技术 > 电工技术 > 电工材料 > 电工陶瓷材料 > 压电陶瓷材料
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