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基于片上天线的无源超高频射频识别标签的射频前端设计
作 者: 奚经天
导 师: 闵昊
学 校: 复旦大学
专 业: 微电子学与固体电子学
关键词: 射频识别 超高频 电子标签 片上天线 标准CMOS工艺 低成本 标签封装 自动阻抗匹配
分类号: TP391.44
类 型: 博士论文
年 份: 2009年
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引 用: 6次
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内容摘要
射频识别技术是一种利用无线射频方式进行非接触式双向通信的自动识别技术。近年来,单品级标签的研发成为射频识别技术领域新的热点。单品级标签可以为采用射频识别技术的客户带来更大的收益,它也标志着射频识别技术更深层次的推广与应用。针对单品级标签对成本和体积的苛刻要求,本文结合超高频近场射频识别技术提出以片上无源器件为实现形式的一组解决方案。首先,本文利用电小天线理论确定了超高频片上天线的工作机制与天线类型,从磁场分布、路径增益、等效模型三个角度讨论了片上天线的无线链路,明确了苛刻的芯片面积导致超高频片上天线与阅读器环天线的典型耦合系数仅为1‰,这是在超高频无源标签上成功集成片上天线的一大挑战。通过对寄生损耗的分析,确定了适用于超高频片上天线的集总模型,并提出了一套符合物理意义的模型参数提取方法,而且该模型可以为片上天线的优化实现提供指导。本文探讨了利用超高频片上天线来实现标签芯片与片外天线之间基于磁场耦合的电连接,这种新型标签封装可以消除传统方式成本偏高、可靠性差的缺点。其次,本文讨论了标签阻抗匹配的特点,量化分析了水、金属、玻璃和干燥纸板这四种常见环境对标签天线阻抗的影响,从而为标签可调阻抗匹配网络的匹配区域设计提供依据。本文提出了一种适用于无源超高频标签的自动阻抗匹配系统,其中重点分析了片上π型匹配网络的阻抗匹配范围以及寄生的影响,并探讨了利用标签整流器输出电压或者标签雷达散射截面进行阻抗失配探测的可行性。最后,本文在SMIC 0.18um CMOS RF工艺上流片实现了两款超高频片上天线和一款集成片上天线且兼容EPC C1G2协议的无源超高频标签芯片。测试结果与理论预测基本相符,验证了本文提出的超高频片上天线的集总模型以及片上天线近场信道模型的有效性,并且表明超高频片上天线可以获得cm级的通信距离。
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全文目录
摘要 7-9 Abstract 9-11 第一章 前言 11-28 1.1 研究背景 11-15 1.2 研究现状 15-22 1.2.1 片上天线 15-17 1.2.2 标签芯片的封装 17-18 1.2.3 自动阻抗匹配 18-22 1.3 论文的主要工作与贡献 22-23 1.4 论文的组织结构 23-24 参考文献 24-28 第二章 超高频射频识别系统的物理基础 28-42 2.1 天线的近场和远场 28-30 2.2 平面波 30-31 2.3 电小天线 31-33 2.4 天线的电路模型 33-36 2.5 天线的雷达散射截面 36-39 2.6 阻抗匹配 39-40 参考文献 40-42 第三章 超高频片上天线的设计 42-92 3.1 片上天线的类型 42-45 3.2 片上天线无线链路的建模 45-62 3.2.1 环天线的磁场分布 46-52 3.2.2 近场信道模型 52-54 3.2.3 变压器模型 54-61 3.2.4 二端口网络参数模型 61-62 3.3 片上天线的建模 62-80 3.3.1 片上电感的建模 62-67 3.3.2 片上天线的建模 67-80 3.4 片上天线的设计与优化 80-87 3.5 基于磁场耦合的标签芯片封装 87-89 3.6 小结 89 参考文献 89-92 第四章 无源超高频标签的自动阻抗匹配 92-115 4.1 标签阻抗匹配的特殊性 92-94 4.2 标签天线阻抗的变化 94-105 4.2.1 标签天线阻抗受环境影响的定性分析 94-95 4.2.2 水和金属与电磁波的作用机制 95-96 4.2.3 常见环境对标签天线阻抗影响的仿真 96-105 4.3 适用于无源超高频标签的自动阻抗匹配系统 105-113 4.3.1 可调阻抗匹配网络 106-111 4.3.2 阻抗失配探测器 111-113 4.4 小结 113-114 参考文献 114-115 第五章 测试与分析 115-136 5.1 超高频片上天线的测试结果 115-123 5.1.1 片上天线的测试与建模验证 115-117 5.1.2 标签灵敏度测试 117-121 5.1.3 带片上天线的标签的功能测试 121-123 5.2 无源超高频标签自动阻抗匹配的测试结果 123-135 5.2.1 标签芯片输入阻抗的测量 123-131 5.2.2 标签可调阻抗匹配网络的仿真结果 131-135 5.3 小结 135 参考文献 135-136 第六章 总结与展望 136-138 6.1 总结 136-137 6.2 展望 137-138 附录A 超高频片上天线在IE3D中的仿真 138-141 附录B 标签天线在IE3D、HFSS中的仿真 141-145 附录C 不同环境下标签天线阻抗的变化 145-150 致谢 150-151
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中图分类: > 工业技术 > 自动化技术、计算机技术 > 计算技术、计算机技术 > 计算机的应用 > 信息处理(信息加工) > 模式识别与装置 > 光模式识别及其装置
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