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图形化纳米金刚石薄膜的制备及表面氢吸附的研究
作 者: 石利忠
导 师: 赵庆勋
学 校: 河北大学
专 业: 等离子体物理
关键词: 金刚石薄膜 硫掺杂 化学气相沉积 图形化 光刻 表面吸附
分类号: O484.1
类 型: 硕士论文
年 份: 2009年
下 载: 23次
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内容摘要
金刚石具有优异的力学、热学、光学、电学及声学等物理特性和化学惰性,可用于制造高击穿电压、耐高温和耐强辐射的高性能电子器件,在光电子学领域具有广阔的应用前景。为满足微纳米金刚石类半导体器件的集成化要求,利用光刻技术实现金刚石薄膜的图形化生长是最有效的手段之一。本工作采用电子增强热丝化学气相沉积(EACVD)技术,以硫为掺杂原子,并利用紫外光光刻技术,以Si02作掩模,在p型硅衬底上制备了图形化硫掺杂金刚石薄膜。理论上,采用基于密度泛函理论的第一性原理方法研究了金刚石(001)表面的氢吸附问题,构建了金刚石(2×1):1H表面、(2×1):2H表面和(2×1):1.5H表面,通过分析不同重构表面的电子云图、态密度图和能带结构图,以及氢覆盖度构型的吸附能等得出了最稳定的构型。所得结果对于金刚石薄膜的n型掺杂研究及理解微观成核机理具有参考价值。
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全文目录
摘要 5-6 Abstract 6-9 第1章 引言 9-13 1.1 n型金刚石薄膜的研究简介 9-12 1.2 金刚石薄膜表面的氢吸附问题 12-13 第2章 实验装置与方法 13-22 2.1 实验装置 13 2.2 金刚石薄膜图形化制备方法 13-17 2.3 薄膜的检测 17-20 2.3.1 X射线衍射(XRD) 17 2.3.2 拉曼(Raman)散射 17-18 2.3.3 原子力显微镜(AFM) 18-19 2.3.4 霍耳(Hall)效应 19-20 2.4 第一性原理方法 20-22 2.4.1 Hartree-Fork方程 20 2.4.2 密度泛函理论 20-22 第3章 金刚石薄膜的图形化生长 22-27 3.1 研磨Si衬底得金刚石薄膜的生长 22-23 3.2 金刚石薄膜的图形化 23-25 3.3 金刚石薄膜的电学分析 25-27 第4章 金刚石(001)表面的氢吸附 27-35 4.1 金刚石的晶体结构 27-29 4.2 金刚石表面的构建与优化 29-31 4.3 三种不同氢覆盖度构型的态密度图和能带结构图的分析 31-32 4.4 三种不同氢覆盖度构型的电子云 32-33 4.5 不同氢覆盖度构型的吸附能 33-35 结束语 35-36 参考文献 36-41 硕士期间发表论文 41-42 致谢 42
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中图分类: > 数理科学和化学 > 物理学 > 固体物理学 > 薄膜物理学 > 薄膜的生长、结构和外延
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