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溶胶—凝胶法制备Ba_xSr_(1-x)TiO_3薄膜及其性能研究
作 者: 朱卫东
导 师: 宁兆元;甘肇强;沈明荣
学 校: 苏州大学
专 业: 材料物理与化学
关键词: Sol-gel法 BST薄膜 介电 铁电
分类号: TB43
类 型: 硕士论文
年 份: 2001年
下 载: 242次
引 用: 1次
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内容摘要
本文对采用溶胶-凝胶法(Sol-gel法)制备的BaxSr1-xTiO3(BST)薄膜的工艺进行了初步研究,制备出了光滑均一的BST薄膜。对不同情况下制备出的薄膜的结构进行了分析研究,重点对BST薄膜的介电性能进行了研究,并尝试对实验结果做出解释。 溶胶的制备中,环境温度、水分、稳定剂的比例以及溶胶的浓度对所制备薄膜质量有较大影响。 在后处理工艺上,借助XRD图谱,发现BST薄膜在700℃~800℃时结晶较好,而在700℃以下,BST薄膜基本处于非晶态。利用XRD图谱,实验中还观察到了退火导致的TiO2小岛,分析了它对BST薄膜结晶所做的贡献。 对BST薄膜的介电性能进行研究,从几方面入手。着重研究了BST薄膜的介电性能随着频率变化的关系;BST薄膜的介电性能随Ba/Sr比例变化的关系;BST薄膜的介电性能随厚度变化的关系;以及Ba0.4Sr0.6TiO3/Ba0.6Sr0.4TiO3(BST46/BST64)多层膜与Ba0.5Sr0.5TiO3(BST55)薄膜的介电性能的差别。 在薄膜的铁电性能方面,实验中并未能观察到较好的电滞回线,但提出了相应的解释和进一步研究的方向。
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全文目录
中文摘要 4-5 英文摘要 5-6 第一章 引言 6-11 1-1 铁电材料的研究历史 6-7 1-2 Ba_xSr_(1-x)TiO_3薄膜的研究现状 7-8 1-3 制备方法 8-10 参考文献 10-11 第二章 实验安排 11-20 2-1 实验原理 11-14 2-1-1 磁控溅射的基本原理和实验仪器 11-12 2-1-2 溶胶-凝胶法基本原理 12-13 2-1-3 后处理装置 13-14 2-2 电极的制备 14-16 2-3 溶胶的配制 16-18 2-4 BST薄膜的制备 18-19 参考文献 19-20 第三章 Ba_xSr_(1-x)TiO_3薄膜的结构形貌表征 20-29 3-1 扫描电子显微镜 20-22 3-1-1 扫描电镜的工作原理 20 3-1-2 BST薄膜的SEM分析 20-22 3-2 X射线衍射 22-28 3-2-1 X射线衍射的基本原理 22-23 3-2-2 BST薄膜的X射线衍射分析 23-28 参考文献 28-29 第四章 Ba_xSr_(1-x)TiO_3薄膜性能分析 29-46 4-1 介电性质 29-41 4-1-1 介电常数与介质损耗 29-31 4-1-2 极化的产生 31-32 4-1-3 介电驰豫 32-33 4-1-4 BST薄膜的介电性能 33-41 4-2 铁电性能 41-45 4-2-1 铁电畴和畴的运动 41-43 4-2-2 BST薄膜的铁电性质 43-45 参考文献 45-46 第五章 结论 46-47 附录一 攻读硕士学位期间发表的论文 47-48 致 谢 48
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中图分类: > 工业技术 > 一般工业技术 > 工业通用技术与设备 > 薄膜技术
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