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质子、氦对D、T弹性散射截面的测量研究

作 者: 夏晓杰
导 师: 施立群
学 校: 复旦大学
专 业: 粒子物理与原子核物理
关键词: 背散射截面 反冲截面  
分类号: O571
类 型: 硕士论文
年 份: 2008年
下 载: 62次
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内容摘要


离子束分析技术是一种常规的材料表面分析的工具,具有无损、简便、精确等优点。包括弹性背散射分析、前向弹性反冲分析和核反应分析。本论文主要采用弹性背散射方法(EBS)和前向弹性反冲探测法(ERD)。分别在背散射角155°、165°处,采用Ti吸的薄靶,对能量从1.4到3.4MeV的质子的非卢瑟福弹性背散射截面D(P,P)D、T(P,P)T进行了测量。质子束由9SDH-2型2×3MV串列加速器提供,测量仪器采用金硅面垒探测能谱仪。实验误差小于7.5%,将部分测量结果与前人发表的结果进行了比较,符合得较好。用2.4~7.4MeV的~4He离子束轰击Ti-D、Ti-T样品,测量了在前向30°方向上的D(~4He,D)~4He、T(~4He,T)~4He的ERD截面。实验结果分别以列表形式和激发曲线形式给出,误差小于8%。所测量的数据可供从事离子束分析技术的有关人员参考。最后,论文介绍了非卢瑟福背散射截面值的典型应用,对一些样品做了有意义的元素成分浓度分析。

全文目录


摘要  3-4
Abstract  4-6
第一章 引言  6-11
  1.1 简介  6-7
  1.2 研究概况  7-11
第二章 离子束分析原理  11-18
  2.1 背散射原理  11-16
  2.2 弹性反冲探测法  16-18
第三章 实验方法  18-25
  3.1 实验设备  18-20
  3.2 实验装置与参数设置  20-21
  3.3 能量定标与线性检验  21-23
  3.4 靶样品的制备  23-25
第四章 实验结果及讨论  25-46
  4.1 几种样品的设计  25-29
  4.2 质子背散射截面测量  29-37
  4.3 ERD截面测量  37-41
  4.4 核反应对实验结果的影响  41-43
  4.5 参考元素遵循卢瑟福公式的证明  43-44
  4.6 样品中D、T浓度的计算  44
  4.7 截面误差的讨论  44-46
第五章 离子束分析技术的应用  46-49
参考文献  49-51
致谢  51-52

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中图分类: > 数理科学和化学 > 物理学 > 原子核物理学、高能物理学 > 原子核物理学
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