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液晶屏成盒后电测与亮点检出机理研究

作　者: 陈程
导　师: 屈新萍；向传义
学　校: 复旦大学
专　业: 集成电路工程
关键词: TFT-LCD 亮点电测信号
分类号: TN873.93
类　型: 硕士论文
年　份: 2011年
下　载: 14次
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内容摘要

成盒后电测是整个TFT-LCD制程中一个重要的环节。它作为对液晶屏成盒后的第一次加电检测,可以保证在进行后续工艺前对不良品进行一次筛选,避免不良品浪费后续的耗材。本文通过研究成盒后电测信号的驱动模式,建立Switch的结构模型,并对成盒后电测与模块电测电压大小的差异分析,提出成盒后电测信号的改善方案：降低Common电压,并对其进行验证。之后重点对于Cell成盒后最主要的一大漏检——亮点进行失效模式分析,得出其可能漏检原因,提出两个改善方案：放电画面检测方案以及Gate信号修改方案,通过实际验证,确认方案的改善效果并对其进行改进。经过产线实际确认,降低Common电压与Gate信号修改方案效果明显,前者可以提高所有不良检出率约0.2%,而后者可以提高亮点检出率0.15%,预计可带来年收益75万元。

全文目录

目录  2-3
摘要  3-4
ABSTRACT  4-5
第一章 TFT-LCD原理与发展概述  5-19
  1.1 TFT技术发展史  5-6
  1.2 FT-LCD构造及显示原理  6-9
  1.3 TFT-LCD制造流程  9-16
  1.4 全球TFT-LCD发展新技术动向  16-17
  1.5 成盒后电测作用及其意义  17-18
  1.6 本文结构  18-19
第二章液晶显示器驱动原理  19-24
  2.1 本章综述  19
  2.2 Cs(STORAGE CAPACITOR)存储电容架构  19-21
  2.3 驱动面板架构  21-22
  2.4 面板的各种极性转换方式  22-23
  2.5 本章小结  23-24
第三章成盒后电测研究以及信号改善  24-37
  3.1 成盒后电测机理  24-28
  3.2 成盒后电测结构与信号传输的研究  28-36
  3.3 本章小结  36-37
第四章亮点机理研究以及亮点检出改善  37-52
  4.1 本章综述  37-38
  4.2 亮点形成原因以及失效模式分析  38-44
  4.3 亮点检出能力改善研究  44-51
  4.4 本章小结  51-52
第五章全文总结  52-54
  5.1 主要结论  52
  5.2 后续研究与展望  52-54
参考文献  54-55
致谢  55-56

液晶屏成盒后电测与亮点检出机理研究

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