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PZT95/05薄膜的制备及介电特性研究
作 者: 未治奎
导 师: 余大书
学 校: 天津师范大学
专 业: 材料物理与化学
关键词: Sol-Gel工艺 PZT95/05铁电薄膜 介电弛豫 等效电路
分类号: O484.42
类 型: 硕士论文
年 份: 2011年
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内容摘要
锆钛比为95/05的锆钛酸铅在PZT相图上处于铁电相与反铁电相的相界附近,在室温下,其结构为反铁电正交相,当在压力、温度和电场等因素作用时,由于铁电相和反铁电相之间相互转换而具有许多特殊的电学性能。本文通过改进的溶胶—凝胶(sol-gel)法配制了锆钛比为95:05的溶胶凝胶,并且在最佳的环境温度下烧结得到PZT95/05薄膜。通过Wayne Kerr公司的6500型精密阻抗分析仪(PIA)性能进行了系统的测试及研究。主要研究内容有如下几方面:(1)优化了PZT溶胶配制、烧结、镀电极、极化处理等工艺。(2)通过改变样品的环境温度分析其介电性能可知:当达到样品的居里温度Tc时,样品的介电常数和介电损耗因素均出现异常。绘制出不同温度下样品的Cole-Cole实验图,除了在居里温度以外,其余温度下均符合Davidson-Cole(歪斜圆弧)模型,结合理论计算获得了驰豫时间分布关系。(3)通过对不同底电极上试样介电性能分析和比较:一方面,在铂电极上的PZT95/05薄膜介电常数比在LNO底电极高,且损耗较小。另一方面,在LNO底电极上的薄膜表现有很好的介电弛豫现象。(4)通过对样品的等效电路分析得出:首先,PZT95/05薄膜与一般压电振子相比,该材料属于反谐振频率极大的特殊压电振子;其次,等效电路的模拟参数结果R1=1690(?),C1=2.78×10-13F,L1=1.392×10-5H,Co=5.84×10-12F,R0=20×106(?),结合交流阻抗谱模型分析,求得k2=0.0454(k=21.2%),fs=81MHz,Q=4.2,其中,机电耦合系数高于文献报道的准同型相界处PZT53/47组分的情况。
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全文目录
摘要 5-6 Abstract 6-7 目录 7-10 第一章 绪论 10-17 1.1. 研究背景 10 1.2 PZT材料 10-13 1.2.1 PZT材料的发展历程 10-11 1.2.2 PZT铁电材料的结构特性 11-13 1.2.3 PZT铁电材料的研制与性能 13 1.3. PZT铁电薄膜 13-14 1.4. PZT薄膜与块体材料的差异 14 1.5. 本研究的主要内容及其研究现状 14-15 1.5.1. 本文研究的薄膜材料及其发展现状 14-15 1.5.2. 本研究的主要内容 15 1.6. 本研究的目的和意义 15 1.7. 本课题研究难点及目标 15-17 1.7.1. 工作思路 15-16 1.7.2. 方案设计 16 1.7.3. 工作的重点和难点 16-17 第二章 SOL-GEL法制备PZT95/05铁电薄膜 17-28 2.1. 引言 17-22 2.1.1. 薄膜的研究历史 17 2.1.2. 薄膜的制备技术 17-18 2.1.3. 薄膜的纳米结构 18-19 2.1.4. 薄膜的非理想情况和缺陷 19-22 2.2 实验过程 22-27 2.2.1. 溶胶-凝胶法配制PZT95/05型稳定溶胶 22-25 2.2.2. LNO底电极的制备 25 2.2.3. PZT铁电薄膜的制备 25-27 2.3 本章小结 27-28 第三章 PZT95/05铁电薄膜介电分析 28-38 3.1. 引言 28 3.2. 实验过程 28-29 3.2.1. 实验设备以及材料 28-29 3.2.2. 样品表征 29 3.3. 结果与讨论 29-37 3.3.1. 结构表征(XRD物相分析) 29-30 3.3.2. 介电性能测试(介电温谱与频谱) 30-35 3.3.3. 不同煅烧温度以及不同基底的薄膜性能的初步比较 35-37 3.4. 本章小结 37-38 第四章 介电弛豫理论拟合与等效电路分析 38-51 4.1. 引言 38 4.2. 结果与讨论 38-50 4.2.1. 介电响应的本质 38-39 4.2.2. 动态介电常数 39-41 4.2.3. 利用模型函数分析介电谱 41-44 4.2.4. 曲线拟合 44-46 4.2.5. 等效电路 46-50 4.3. 本章小结 50-51 第五章 全文总结 51-53 参考文献 53-56 攻读硕士期间发表的学术论文 56-57 致谢 57
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中图分类: > 数理科学和化学 > 物理学 > 固体物理学 > 薄膜物理学 > 薄膜的性质 > 电性质
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