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脉冲激光沉积制备不同择优取向的AlN薄膜的研究
作 者: 陈红举
导 师: 张伟风
学 校: 河南大学
专 业: 凝聚态物理
关键词: AlN 择优取向 薄膜层 脉冲激光沉积 衬底温度 氮化铝薄膜 激光能量 薄膜样品 外延生长 直接带隙 原子力显微镜 光电子谱 扫描电子显微镜 表面形貌 薄膜生长 兰宝石 吸收谱 原子灵敏度因子 拉曼光谱 化学气相沉积
分类号: TN249
类 型: 硕士论文
年 份: 2010年
下 载: 73次
引 用: 1次
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内容摘要
由于氮化铝AlN薄膜具有稳定的物理性质和化学性质、机械强度高、绝缘性能又好、直接带隙宽、热传导率高、低热膨胀系数等特点,广泛应用于声学表面波器件、微电子及光学器件,有关AlN薄膜的制备研究己引起广泛的关注和兴趣。本文研究了用脉冲激光沉积法制备AlN薄膜,通过优化激光能量、生长温度、环境偏压等条件,制备了不同择优取向的AlN薄膜,分别用X射线衍射仪、拉曼光谱仪、傅立叶变换红外光谱仪、扫描电子显微镜、原子力显微镜、X射线光电子谱等仪器检测了样品的结晶度、表面形貌等结构特性。首先在不同的激光能量条件下,在p-Si(100)衬底上制备了(110)择优取向的AlN薄膜,通过用X射线衍射仪、拉曼光谱仪、傅立叶变换红外光谱仪、原子力显微镜、扫描电子显微镜、X射线光电子谱等仪器对样品进行了检测,结果表明激光能量为600mJ/puls时,所制备的AlN薄膜结晶最好,表面择优取向也最好,面内表现为各向同性,不是外延生长。其次选择激光能量为600mJ/puls,改变衬底温度,结果表明当温度为600℃时,AlN薄膜是(110)方向择优取向;当温度小于400℃时,AlN薄膜不再是(110)方向择优取向,而是(002)方向择优取向,当衬底温度为250℃时AlN薄膜的(002)方向择优取向最强,并且用石英和兰宝石衬底上同样条件下也可以生长成(002)方向择优取向的AlN薄膜。最后制备AlN薄膜用不同的环境偏压,结果表明当N2偏压大于2×10-4Pa时,所制备的AlN薄膜不结晶,只有在高真空条件下才能制备出择优取向的AlN薄膜。本文讨论研究了在不同条件下制备不同择优取向的AlN薄膜,通过研究表明用脉冲激光沉积法制备AlN薄膜最重要的条件为:AlN等离子体(羽辉)的动能大小决定了结晶度及择优取向,动能越大,结晶度越高,动能越小,越不利于结晶。通过本论文的研究可分别制备出(110)和(002)择优取向的AlN薄膜。为下一步的应用研究提供有力保障。
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全文目录
摘要 4-5 Abstract 5-9 第一章 绪论 9-23 1.1 研究氮化铝(AlN)薄膜的意义 9-10 1.2 国内外研究现状 10-18 1.2.1 AlN 晶体概况 10-11 1.2.2 氮化铝的性能及用途 11-12 1.2.3 氮化铝薄膜的制备方法 12-16 1.2.4 氮化铝薄膜的应用前景和发展方向 16-18 1.3 本论文研究的目的和主要内容 18-19 1.3.1 本论文研究的目的 18 1.3.2 本论文研究的主要内容 18-19 参考文献 19-23 第二章 用脉冲激光沉积法制备氮化铝薄膜 23-31 2.1 脉冲激光沉积系统 23-24 2.2 制备AlN 薄膜 24-25 2.2.1 试验准备 24 2.2.2 AlN 薄膜沉积试验 24-25 2.3 AlN 薄膜的表征手段 25-29 2.3.1 X-射线衍射(XRD) 25-26 2.3.2 拉曼光谱(Raman)及傅立叶变换红外光谱(FTIR) 26 2.3.3 反射-吸收光谱 26-27 2.3.4 原子力显微镜(AFM)及扫描电子显微镜(SEM) 27 2.3.5 X 射线光电子能谱仪(XPS) 27-29 参考文献 29-31 第三章 实验条件对氮化铝薄膜择优取向的影响 31-66 3.1 脉冲激光能量对氮化铝薄膜的影响 31-54 3.1.1 XRD 分析 31-36 3.1.2 Raman 和FTIR 光谱分析 36-40 3.1.3 AlN 薄膜的反射-吸收光谱 40-45 3.1.4 X 射线光电子能谱仪(XPS)分析 45-50 3.1.5 原子力显微镜(AFM)及扫描电子显微镜(SEM) 50-54 3.2 衬底温度对氮化铝薄膜的影响 54-58 3.2.1 在p-Si 衬底上沉积AlN 薄膜 55-57 3.2.2 在石英(SiO_2)及兰宝石(Al_2O_3)衬底上沉积 AlN 薄膜研究 57-58 3.3 N_2 偏压对氮化铝薄膜的影响 58-60 本章小节 60-61 参考文献 61-66 第四章 总结 66-68 硕士期间申请专利及完成和发表的论文 68-69 致谢 69
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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 光电子技术、激光技术 > 激光技术、微波激射技术 > 激光的应用
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