学位论文 > 优秀研究生学位论文题录展示

AXI图像质量提升及BGA缺陷自动识别研究

作　者: 王朋
导　师: 吴懿平
学　校: 华中科技大学
专　业: 材料加工工程
关键词: 降噪畸变校正缺陷识别 AXI 图像处理
分类号: TP391.41
类　型: 硕士论文
年　份: 2013年
下　载: 3次
引　用: 0次
阅　读: 论文下载

内容摘要

近年来，电子产品的发展倾向于性能更强、体积更小。为了迎合市场的需求，集成电路芯片尺寸也越来越小，器件引脚密度越来越高。然而，体积减小的同时，键合过程变得困难，键合缺陷也相应增多，同时缺陷也变得难以检测。由于X射线检测技术检测精度高，结果直观，对器件无损，可实现实时性检测，因而在工业生产中得到广泛应用。本文主要研究自动X射线检测仪图像质量的提升以及缺陷的自动识别。首先，针对自动X射线检测仪中出现的图像噪声，以及CCD探测器中出现的图像畸变，对图像进行消噪处理以及畸变校正。图像降噪过程中主要用到的算法有基于灰度差值的均值滤波算法、低频空域滤波。以上两种算法均可以有效的去除图像中的噪声，且对图像细节几乎没有损失。畸变校正采用标定模板法，根据模板上特征点的位置和其理想点的位置来求取畸变系数，之后对图像进行坐标变换和灰度重建。坐标变换采用从理想图像到畸变图像的后向映射方法，而灰度重建采用双线性插值法。其次，根据降噪处理以及畸变校正之后的图像进行缺陷自动识别。先对图像进行分割，从而获得焊点图像，然后提取了BGA焊点的位置、面积、圆形度等特征，并且根据焊点的位置信息拟合出一个网格，对应焊点的理论位置，之后对已经提取出的特征量进行进一步的处理，构造出能够用于分类的特征向量来，最后借助于树分类的方法构造了一个缺陷的判决过程。

全文目录

摘要  4-5
Abstract  5-9
1 绪论  9-16
  1.1 X 射线检测仪简介  9-10
  1.2 X 射线检测仪的组成以及存在的问题  10-13
  1.3 AXI 图像质量提升及缺陷识别算法的国内外研究现状  13-14
  1.4 本文主要研究内容  14-16
2 X 射线检测图像降噪算法研究  16-28
  2.1 X 射线检测图像的噪声来源分析  16-17
  2.2 基于灰度差值的均值滤波算法  17-23
  2.3 低频空域滤波  23-27
  2.4 本章小结  27-28
3 图像畸变校正  28-39
  3.1 图像畸变产生的原因  28-29
  3.2 图像畸变校正  29-38
  3.3 本章小结  38-39
4 BGA 缺陷自动识别研究  39-54
  4.1 BGA 缺陷种类  39-40
  4.2 BGA 焊点特征的选择与提取  40-50
  4.3 BGA 焊点缺陷识别算法  50-51
  4.4 实验结果  51-52
  4.5 本章小结  52-54
5 总结与展望  54-56
  5.1 论文主要工作和创新点  54-55
  5.2 展望  55-56
致谢  56-57
参考文献  57-61
附录攻读硕士学位期间发表的论文  61

AXI图像质量提升及BGA缺陷自动识别研究

内容摘要

全文目录

相似论文