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大反射器件在有效效率和剩余误差项测量的应用研究

作 者: 宋翠莲
导 师: 刘欣萌
学 校: 中国计量科学研究院
专 业: 测试计量技术及仪器
关键词: 大反射器件 有效效率 剩余误差项 二次修正 在片散射参数测试
分类号: TM931
类 型: 硕士论文
年 份: 2013年
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内容摘要


近几十年来,微波理论与技术已经被广泛应用于通讯、导航、科学研究、能源等诸多领域,并成为近代科学技术发展的重大成就之一。微波测量技术是进行量值测定并保持统一的一门专门技术,是微波科学必不可少的组成部分。在进行具体的微波测量工作时,充分、合理的利用手头具备的测试条件完成测试任务,并保证测量结果的准确性,仍然是值得深入探讨的问题。所以对测量方法的研究还是具有重要的理论意义和实用价值的。本文对利用大反射器件测量双端口小衰减器件有效效率技术和利用大反射器件测量网络分析仪校准后剩余误差项技术进行了研究。本文的主要研究工作如下:1.对基于大反射器件的两种单端口测量技术和经典的去嵌入技术进行了详细分析,并在波导测试系统上实现了这三种测量方法,测量了双端口、小衰减器件的有效效率,对测量结果的误差来源进行了分析。2对大反射器件法求网络分析仪校准后剩余误差项技术的理论模型和数据处理进行了详细分析;对大反射器件法求网络分析仪校准后剩余误差项技术中空气线、大反射终端的技术参数要求进行了深入研究;对数据处理过程中的线性扩展、窗因子修正和截取方法进行了详细分析;最后用LabVIEW软件实现了对数据的处理和对测量结果的二次修正。3.利用新波导电路理论对存在阻抗失配的测量系统进行了分析、实现了对阻抗失配的修正;使用LabVIEW编写了对阻抗失配进行修正的软件。其次,对在片散射参数测量系统中片上开路器的特性进行分析,验证了大反射器件法求网络分析仪校准后剩余误差项技术可以应用到在片散射参数测量系统。最后,分析了网络分析仪的非线性对利用该方法求得的剩余误差项的影响。

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中图分类: > 工业技术 > 电工技术 > 电气测量技术及仪器 > 微波测量及仪表
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