学位论文 > 优秀研究生学位论文题录展示
廉价衬底上PECVD法制备非晶硅薄膜的工艺研究
作 者: 于经
导 师: 刘彩池
学 校: 河北工业大学
专 业: 材料物理与化学
关键词: 非晶硅薄膜 PECVD 沉积速率 组态
分类号: TN304.055
类 型: 硕士论文
年 份: 2010年
下 载: 100次
引 用: 0次
阅 读: 论文下载
内容摘要
环境污染和能源危机是现代社会面临的严峻问题,太阳能作为可再生的清洁能源使得太阳能电池的研究日益重要。非晶硅薄膜太阳能电池已经成为光伏领域的热点,廉价衬底的引入使其在成本方面具有更强的市场竞争力。非晶硅薄膜近年来也得到了广泛的研究。本文采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)设备,以SiH4和H2为气源,分别在玻璃片、单晶硅片、不锈钢片衬底上制备了非晶硅薄膜。采用XRD、Raman、SEM、FTIR等分析技术研究了硅烷浓度、衬底温度、射频功率、沉积气压等工艺参数对薄膜生长速率、结构、组态和表面形貌的影响。实验结果表明,玻璃衬底上非晶硅薄膜的沉积速率随硅烷浓度的增加、衬底温度的升高、射频功率和沉积气压的增大而增加。当硅烷浓度从3%增加到5%时,沉积速率增幅是最大的,当硅烷浓度由低到高变化时,薄膜结构中的SiH、SiH2组态转变为SiH组态;当衬底温度从300℃升高到350℃时,沉积速率提高最快,当衬底温度由低到高变化时,薄膜结构中的SiH、SiH2组态转变为SiH组态;当射频功率从40W增大到70W时,沉积速率增长最快,当射频功率由低到高变化时,薄膜结构中的SiH组态转变为SiH、SiH2组态;当沉积气压从80Pa增大到100Pa时,沉积速率提高最快,当沉积气压由低到高变化时,薄膜结构中的SiH、SiH2组态转变为SiH组态。通过实验得到了利用现有设备生长非晶硅薄膜的优化工艺参数。衬底材料的不同对薄膜的表面形貌有很大影响,玻璃和硅片上的薄膜表面较平整均匀,不锈钢片上的薄膜表面很粗糙。
|
全文目录
摘要 4-5 ABSTRACT 5-9 第一章 绪论 9-18 1.1 太阳能电池的发展历史及趋势 9-11 1.1.1 太阳能电池的研究背景 9-10 1.1.2 太阳能电池的发展趋势 10-11 1.2 非晶硅薄膜的特性及应用 11-16 1.2.1 非晶硅薄膜的结构及特性 11-13 1.2.2 非晶硅的光致衰退效应 13-14 1.2.3 非晶硅薄膜的应用 14-16 1.3 本文主要研究内容 16-18 第二章 PECVD 法及主要分析技术 18-21 2.1 PECVD 法 18-19 2.2 主要分析技术 19-21 2.2.1 X 射线衍射(XRD ) 19 2.2.2 激光拉曼光谱(Raman) 19-20 2.2.3 扫描电子显微镜(SEM) 20 2.2.4 傅立叶红外光谱仪(FTIR ) 20 2.2.5 台阶仪(Surface Profiler ) 20-21 第三章 衬底材料对非晶硅薄膜性能的影响 21-28 3.1 实验过程 21-25 3.1.1 原材料的选取 21-22 3.1.2 PECVD 设备参数 22-23 3.1.3 衬底预处理 23-24 3.1.4 实验步骤 24-25 3.1.5 工艺参数 25 3.2 实验结果与分析 25-27 3.3 小结 27-28 第四章 非晶硅薄膜的制备工艺参数对其性能的影响 28-48 4.1 引言 28 4.2 硅烷浓度对非晶硅薄膜性能的影响 28-34 4.3 衬底温度对非晶硅薄膜性能的影响 34-39 4.4 射频功率对非晶硅薄膜性能的影响 39-43 4.5 反应气压对非晶硅薄膜性能的影响 43-48 第五章 结论 48-49 参考文献 49-52 攻读学位期间所取得的相关科研成果 52-53 致谢 53
|
相似论文
- 太阳能冷热暖三联供热泵机组监控系统的设计与实验研究,TK511.2
- 非晶硅薄膜晶体管在栅漏电应力下的退化研究,TN321.5
- 多晶硅核心生产装置操作仿真系统的研究与开发,TQ127.2
- 光伏发电系统监控与发电预测模型研究,TM615
- EPA工业以太网监控组态软件的研究与设计,TP273
- 能源管理监控系统设计,TP277
- 堆垛机实训装置运行及监控系统的研究,TH246
- 基于组态王的电力安全风险体验系统的设计与实现,TP273
- 磁控溅射法制备氮化硅薄膜及其性能研究,O613.72
- 薄膜太阳能电池窗口材料SnO_2的PECVD制备及其性能研究,TM914.42
- PECVD工艺条件对器件合格率的影响及其优化,TN304.05
- 微生物碳酸酐酶在方解石沉积中的作用,P512.5
- PECVD氮化硅薄膜的制备工艺及仿真研究,O484.1
- 剃须刀片刃口上镀类金刚石膜的实验研究,TG174.4
- 氢对PECVD法制备硅基薄膜沉积速率、膜结构及性能的影响,TB383.2
- 适用于SAW传感器的DLC/ZnO/Si,DLC/ZnO/金刚石多层膜研究,TP212
- 铝熔炼、保温炉自动控制系统研究,TP273
- PECVD镀膜设备的控制系统开发,TP273
- PECVD多晶硅薄膜制备工艺和性能的研究,TN304.055
- 多绳提升钢丝绳张力动态检测系统的设计,TP212.9
中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 半导体技术 > 一般性问题 > 材料 > 一般性问题 > 制取方法与设备 > 半导体薄膜技术
© 2012 www.xueweilunwen.com
|