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数控机床可靠性增长实用技术
作 者: 裴咏红
导 师: 贾亚洲
学 校: 吉林大学
专 业: 机械电子工程
关键词: 数控机床 可靠性增长管理 可靠性增长模型
分类号: TG659
类 型: 硕士论文
年 份: 2004年
下 载: 831次
引 用: 7次
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内容摘要
目前,国产数控系统市场占有率过低,造成这一状况的重要原因,是其可靠性较低。可靠性已成为数控技术发展的“瓶颈”,是整个数控装备行业乃至当今机械制造行业发展的重大共性和关键的技术。数控机床最关键的质量指标是使用的可靠性(以故障间隔时间MTBF来衡量),在这个方面,国产数控机床与国外名牌产品还存在着相当的差距。因此进行数控装备可靠性增长技术的研究,对于增强国有品牌的国际竞争能力,提高市场占有率具有重要意义。本课题来源于国家高技术研究发展计划课题所属专题——数控关键技术装备产业化支撑技术及应用。本文主要进行数控装备可靠性增长实用技术的研究,力求通过这些技术的采用,达到产品可靠性的显著增长。作者对数控机床可靠性进行了系统的深入的研究。提出了以传统的可靠性增长管理为基础的数控机床全寿命周期的可靠性增长管理模式。传统的可靠性增长管理是把可靠性目标值作为时间和其它资财的函数而系统的制定计划,并且根据计划的和估计的可靠性值的比较进行资财的再分配,以控制达到可靠性目标值的速度。试验分析纠正(TAAF)过程管理主要在产品的研制、试生产、批量生产阶段进行,对于产品在使用阶段的分析纠正却没有涉及到,本文将数控机床寿命周期内的可靠性增长融为一体,提出了数控机床寿命周期(包括产品研制、试生产、批量生产和用户使用期间)内的可靠性增长过程管理模式。这种管理模式主要是在TAAF过程管理的基础上加入了现役产品的分析纠正(collection,analyses and fix,简称CAAF)过程。结合了数控车床实际使用过程中的故障数据,选择AMSAA-BISE模型对受试机床在使用中的可靠性增长情况进行跟踪和评估,得到了考核结束时刻机床的MTBF的点估计值和区间估计,并预测了下一次故障发生的时间区间,使及时维修成为可能。在借鉴前几届研究生的工作成果基础上,介绍了数控机床在其寿命周期的早期和后期阶段所实施的不同的可靠性增长技术。建立了早期阶段的早期故障试验规范,制造过程中的关键工序和装配过程、关键配套件、外购件的可靠性保证措<WP=71>施,并根据数控机床使用过程中的故障情况的收集和以往设计的经验,建立了可靠性设计准则。
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中图分类: > 工业技术 > 金属学与金属工艺 > 金属切削加工及机床 > 程序控制机床、数控机床及其加工
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