学位论文 > 优秀研究生学位论文题录展示

RTL级基于覆盖率驱动EMI的验证

作　者: 金娟
导　师: 时龙兴
学　校: 东南大学
专　业: 电路与系统
关键词: EMI 功能验证可重用性覆盖率驱动验证受限随机矢量生成功能确认
分类号: TN47
类　型: 硕士论文
年　份: 2006年
下　载: 162次
引　用: 2次
阅　读: 论文下载

内容摘要

随着嵌入式系统的高速发展,嵌入式SoC芯片应用范围越来越广泛,而SoC芯片大多包含有外部存储器接口模块(EMI,External Memory Interface),本文讨论的基于ARM7TDMI的“Garfield”系统芯片中的EMI支持多种不同类型的存储器,包括SRAM、ROM、Nor Flash、SDRAM及Nand Flash,对其进行充分的功能验证,保证EMI一次性流片成功尤为重要。目前多数的IC设计项目中,功能验证一直以来都是设计中最难克服和最具有挑战性的课题之一。功能验证的难点主要体现在以下几个方面:测试向量的快速生成,验证平台的可重用性,验证质量的评估和回归测试。本文的研究内容是Garfield系统芯片设计的一部分,着重讨论了一款SoC芯片Garfield中EMI的功能及其功能验证,本论文的主要工作是对Garfield中EMI的RTL级功能验证平台的设计实现。为了保证EMI的总体设计和验证要求,在对EMI验证过程中吸纳和综合使用了两种技术:一是可重用的验证环境开发技术,它帮助验证工程师根据验证计划中的功能点产生约束,自动生成测试矢量,提高验证工作效率;二是基于覆盖率驱动的验证技术,它的作用是完善功能验证工作的验证计划,帮助验证工程师发现待验证模块中的设计错误,通过多次回归测试,不断的基于覆盖率驱动加强约束开发确定性的测试场景,最后达到了指定的覆盖率。本文主要的研究工作如下:1.基于Garfield体系结构,讨论EMI在Garfield系统芯片中的地位,作用,以及该设计的结构,全面掌握EMI的设计原理和实现方案,及其功能性能特点,并根据EMI的功能规格定义制定了详细验证计划。2.确定以Specman为验证平台,并以Specman平台支持的验证语言——E语言,设计实现了EMI RTL级基于覆盖率驱动的验证环境,该环境具有高度的可扩展性和可重用性,并已成功应用于Garfield中EMI的各功能的验证,最后并对EMI验证结果进行分析和评估。3.在基于ARM的ADS调试环境(IDE)中对实际芯片中的EMI进行测试,开发其驱动和测试程序,其产生的测试矢量和EMI RTL级的验证矢量高度统一,且EMI的测试比其RTL级模块级的验证更专注于EMI在系统级与其他模块的协调仿真,如PMU,DMAC等模块。

全文目录

摘要  4-5
Abstract  5-8
第一章绪论  8-10
  1.1 课题背景及研究意义  8-9
  1.2 论文的工作和结构  9-10
第二章 SoC 功能验证方法介绍  10-14
  2.1 静态验证  10-11
  2.2 基于仿真的验证——动态验证技术  11-12
  2.3 FPGA 验证  12
  2.4 软硬件协同验证  12-13
  2.5 SoC 功能验证方法的小结  13-14
第三章 EMI 设计方案  14-23
  3.1 EMI 在Garfield 中的地位和作用  14-15
  3.2 EMI 设计结构分析  15-22
    3.2.1 EMI 设计相关背景知识介绍  15-16
    3.2.2 EMI 设计介绍  16-22
  3.3 本章小结  22-23
第四章 EMI 验证环境  23-31
  4.1 Specman Elite 和E 语言简介  23-27
    4.1.1 基于Specman Elite 的平台架构  23-24
    4.1.2 eVC 和验证环境的可重用性  24-27
  4.2 可重用的EMI 验证环境  27-30
    4.2.1 EMI 模块的验证方案  27
    4.2.2 使用AHB eVC 搭建验证环境  27-28
    4.2.3 配置AHB eVC 配置文件  28-29
    4.2.4 配置AHB eVC 序列库  29-30
    4.2.5 配置eVC 的功能覆盖率  30
    4.2.6 配置监视器  30
  4.3 本章小结  30-31
第五章基于覆盖率驱动的EMI 验证结果分析  31-55
  5.1 EMI 的覆盖率目标  31-33
  5.2 基于覆盖率驱动的激励受限生成  33-35
    5.2.1 覆盖率评估机制  33-34
    5.2.2 基于覆盖率驱动的激励生成  34-35
  5.3 针对覆盖率空洞开发EMI 关键场景  35-47
    5.3.1 SRAM 的仿真验证  35-36
    5.3.2 SDRAM 的仿真验证  36-43
    5.3.3 Nand Flash 的仿真验证  43-47
  5.4 EMI 的验证结果分析  47-54
    5.4.1 EMI 功能覆盖率报告  47-49
    5.4.2 EMI 模块的代码覆盖率报告  49
    5.4.3 两种覆盖率机制的比较  49-50
    5.4.4 使用覆盖率驱动验证流程的结果  50-54
  5.5 EMI 验证工作总结  54-55
第六章 EMI 测试结果分析  55-63
  6.1 Garfield 测试板及 JTAG 接口电路的简介  55-57
  6.2 SRAM 与 SDRAM 的调试和测试  57-59
  6.3 Nand Flash 驱动及其电路的调试和测试  59-62
    6.3.1 Nand Flash 驱动和文件系统接口  60-61
    6.3.2 从 Nand Flash 启动的流程  61-62
  6.4 EMI 测试工作的总结  62-63
总结与展望  63-64
致谢  64-65
作者简介  65-66
参考文献  66-67

RTL级基于覆盖率驱动EMI的验证

内容摘要

全文目录

相似论文